Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #293644486 zu verkaufen

RUDOLPH/AUGUST NSX 105 Maske & Wafer Inspektion Ausrüstung ist ein Präzisionsinstrument in der Halbleiterindustrie für präzise und genaue Messungen der kritischen Abmessungen von integrierten Schaltungen (ICs) und anderen Komponenten auf Leiterplatten verwendet. Das System bietet präzise und präzise Messungen bei hoher Geschwindigkeit. Es verfügt über eine Kombination von fünf Komponenten: optische Einheit, Steuergerät, Probenhalter, Scan-Konsole und Display-Konsole. Das optische Tool von AUGUST NSX-105 mask & wafer inspection asset besteht aus einem hochmodernen LIDAR-Modell (LIDAR), einem Mikroskop und einer CCD-Kamera (charge-coupled device). Die LIDAR-Ausrüstung verwendet Lasertechnologie, um die Tiefe der zu untersuchenden Proben zu erfassen und die Positionierung der Sondenspitze in Bezug auf die Probe zu steuern. Das Mikroskop bietet eine hochpräzise Auflösung für die genaue Betrachtung von Komponenten auf der Platine. Die CCD-Kamera dient zur Aufnahme eines hochauflösenden Bildes für die Offline-Verarbeitung. Das Steuerungssystem von RUDOLPH NSX 105 Maske & Wafer Inspektionseinheit ist eine Hochleistungs-Prozessoreinheit, die mit der Optik, Probenhalter, Scan-Konsole und Display-Konsole kommuniziert. Es enthält einen programmierbaren Logikcontroller (SPS) und andere notwendige Komponenten, um Daten aus der Maschine zu verarbeiten und zu analysieren. Die SPS ist so programmiert, dass sie Echtzeitanweisungen und Berechnungen zur genauen Positionierung der Sondenspitze ausführt. Das Steuerwerkzeug enthält auch ein Hörsignal, das Inspektoren auf mögliche Probleme während des Prozesses hinweist. Als Basisplattform für die Probe dienen die Probenhalter des Masken- & Wafer-Inspektionsguts NSX 105. Sie enthalten interne Griffe, die eine einfache Handhabung und Bewegung erleichtern, sowie Halteclips oder Schlösser, um die Stabilität der Proben zu gewährleisten. Die Probenhalter sind in verschiedenen Größen für verschiedene Größen und Geometrieproben erhältlich. RUDOLPH/AUGUST NSX-105 Scan-Konsole verfügt über eine hochauflösende Anzeige, die es Benutzern ermöglicht, die untersuchten Proben über das Mikroskop anzuzeigen. Benutzer können auch die Positionierung der Sondenspitze steuern und die Probenbeleuchtung regulieren. Die Anzeigekonsole enthält Bedienelemente für Dateneingabe/-ausgabe, Probenidentifikation und -messung sowie manuelle und automatische Kalibrierungen. AUGUST NSX 105 Maske & Wafer Inspektionsmodell ist eine All-in-One-Ausrüstung entwickelt, um Präzisionsmessung mit hoher Genauigkeit und Geschwindigkeit zu bieten. Das System zeichnet sich durch seine fortschrittlichen optischen und Steuerungssysteme aus, kombiniert mit robusten und zuverlässigen Probenhaltern und ergonomischer Benutzeroberfläche. RUDOLPH/AUGUST NSX 105 inspiziert effizient Masken- und Wafer-Komponenten und gewährleistet die Herstellung hochwertiger Halbleiterprodukte.