Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #9392805 zu verkaufen

ID: 9392805
Wafergröße: 8"
Wafer inspection system, 8".
RUDOLPH/AUGUST NSX 105 ist eine effiziente Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die präzise und zuverlässige Inspektionsergebnisse liefert. AUGUST NSX-105 bietet ein hochpräzises automatisiertes System zur Identifizierung von Anomalien in einer Vielzahl von Masken und Wafern. Das Gerät verfügt über eine Reihe fortschrittlicher Inspektionstechnologien wie optische Inspektion, Oberflächeninspektion und 3D-Identifikation. Bei der optischen Inspektion wird ein starkes Beugungsgitter verwendet, um die Art des Defekts und seine Anwesenheit in der Maske oder dem Wafer zu erkennen. Dies geschieht sowohl im digitalen als auch im analogen Modus. Zusätzlich dient ein hochauflösendes Mikroskop zur Untersuchung von Defekten an der Oberfläche von Maske und Wafer. Die Maschine verfügt außerdem über eine leistungsstarke 3D-Identifikationstechnologie, mit der sie kleinste Verformungen, Verbesserungen oder eventuell vorhandene Fehler identifizieren kann. Das 3D-Identifikations-Tool arbeitet, indem eine Probe der Maske oder des Wafers in drei Dimensionen gescannt wird, sodass das Element Unregelmäßigkeiten ermitteln kann. Diese Technologie ist besonders nützlich, um verschiedene Arten von Defekten visuell zu unterscheiden. RUDOLPH NSX 105 verfügt auch über „SoftLine“, eine proprietäre Software, die die automatisierte Analyse mehrerer Bilder erleichtert. Die Softline-Software überlagert mehrere Bilder und ermöglicht es dem Bediener, Anomalien innerhalb der Bilder zu ermitteln und einen umfassenden Bericht zu erstellen. RUDOLPH/AUGUST NSX-105 bietet verschiedene Betriebsarten, darunter manuell, halbautomatisch und vollautomatisch. Das Modell kann mit bestimmten Parametern programmiert werden, um sicherzustellen, dass nur die gewünschten Fehler gekennzeichnet werden. Die Ausrüstung speichert auch Aufzeichnungen früherer Inspektionen zum Vergleich und zur statistischen Analyse. RUDOLPH NSX-105 ist ein unschätzbares Werkzeug zur Erkennung und Vorbeugung von möglichen Defekten in Masken und Wafern. Es ist ein effizientes und leistungsfähiges System, das Anomalien genau identifizieren und die Ergebnisse rechtzeitig liefern kann. Seine fortschrittlichen Technologien und Fähigkeiten machen es zu einer robusten und zuverlässigen Lösung für Chiphersteller, so dass sie zuverlässige und präzise Produkte an ihre Kunden liefern können.
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