Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #9400702 zu verkaufen

ID: 9400702
Wafergröße: 6"-8"
Weinlese: 2005
Macro defect inspection system, 6"-8" Automated wafer, die and bump inspection Objectives: 1x, 2x, 5x, 10x, 20x PC 2005 vintage.
RUDOLPH/AUGUST NSX 105 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung zur Inspektion fortschrittlicher Halbleiterbauelemente mit kleinen Funktionsgrößen. Dieses System ist in der Lage, bis zu 10.000 Waferbilder pro Sekunde zu untersuchen und Fehler bis zu 0,6 Mikrometer zu erkennen. AUGUST NSX-105 kann zur Inspektion von Wafern mit einem Funktionsgrößenbereich von 75nm bis 800nm verwendet werden. Das Gerät ist mit einer hochauflösenden 4kx4k CMOS Imaging Kamera ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, größere Bereiche zu inspizieren und Bilder nebeneinander genau zu vergleichen. Darüber hinaus ist die Kamera in der Lage, Mängel zu erkennen, von offenen Linien und kurzen Hosen bis hin zu Wasserzeichen und Musterverschiebungen, die während des Herstellungsprozesses verursacht wurden. RUDOLPH NSX 105 enthält auch eine Software-Bibliothek mit automatisierten Inspektionsskripten, die eine verbesserte Auftragseinrichtung, Datenüberprüfung und Erkennungsgeschwindigkeit ermöglichen. Die Maschine nutzt ein digitales Mikroskop und bietet Benutzern hochauflösende Bilder, um das Produkt schnell auf Qualitätsfehler zu bewerten. Das Mikroskop ist mit einer Vielzahl von Objektiven, Linsen und Filtern ausgestattet, um Fehler genau zu erkennen und zu diagnostizieren. Das Tool kommt auch mit mehreren erweiterten Inspektionsalgorithmen, wie Kantenerkennung und 3D Lateral Step Height Mapping. Diese Algorithmen helfen, Inkonsistenzen und Mängel im Material zu erkennen sowie den Zustand der Maske/des Wafers zu bewerten, um den Erfolg des Prozesses zu bewerten. NSX 105 ist eine ideale Wahl für die Inspektion von Silizium-Wafern mit hoher Geschwindigkeit aufgrund seiner hochauflösenden Bildgebungsfunktionen und fortschrittlichen automatisierten Funktionen. Dieses Asset ist so konzipiert, dass es einfach eingerichtet und verwendet werden kann, sodass der Benutzer eine große Anzahl von Wafern mit minimalem Aufwand schnell und genau überprüfen kann. Das Modell eignet sich gut für den Einsatz bei Halbleiterherstellern und Forschungslaboren und bietet ein einfaches und zuverlässiges Mittel zur Qualitätssicherung.
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