Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #293595875 zu verkaufen

RUDOLPH/AUGUST NSX 115 ist eine hochmoderne Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die leistungsstarke bildgebende Technologie und fortschrittliche Mustererkennungsalgorithmen verwendet, um Fehler an Masken und Wafern zu erkennen, die bei der Herstellung verschiedener Halbleiterprodukte verwendet werden. Mit einem 5-Zoll-LCD-Touchscreen bietet das System eine einfach zu bedienende Benutzeroberfläche, mit der Bediener die Qualität des Produktionsprozesses schnell überwachen können. Mit einer monochromen Digitalkamera und einem proprietären Scankopf ist das Gerät in der Lage, gleichzeitig zwei Bilder und die Erkennung von Funktionen in einem einzigen Hochgeschwindigkeitspass über die Probe zu erfassen. Ein hochauflösender und hochverstärkender Bildsensor bietet eine erhöhte Bildauflösung aller Arten von Defekten, während die gleichzeitige planare Bildgebung, vertikale und horizontale Musterabtastung, Linienkunst und Bitmap-Scan durch konfigurierbare Spitzenerkennungseinstellungen und erweiterte Dekonvolution-Techniken ermöglicht wird. Die Maschine bietet zusätzlich eine Bibliothek ausgewählter Waferinspektionsalgorithmen und Algorithmen für Maskeninspektionen, die auf bestimmte Fehlertypen zugeschnitten sind und auf die spezifischen Anwendungs- oder Testanforderungen des Anwenders konfigurierbar sind. Für maximale Erkennungsfähigkeit bietet AUGUST NSX 115 eine breite Palette von Funktionen und Einstellungen, darunter Fehlerbibliothek, Histogrammbearbeitung und -verschiebung sowie Objektklassifizierer und Segmentierung. Schließlich bietet das Tool True Color Imaging, automatische Fehlerklassifizierung und -auswertung, Fehleranalyse und -sortierung sowie eine erweiterte Bibliothek, die Bediener bei der Fehleranalyse und -berichterstattung unterstützen kann. Dies ermöglicht es dem Bediener, die Quelle des Fehlers zu verstehen und bei der Fehleranalyse zu helfen, sie bei schnellen Korrekturen zu unterstützen und Verzögerungen in der Produktionslinie zu minimieren. Insgesamt ist RUDOLPH NSX 115 Mask & Wafer Inspection Model ein leistungsstarkes Werkzeug zur Qualitätssicherung bei der Herstellung von Halbleiterprodukten. Seine Kombination aus fortschrittlichen Scantechnologien, Fehlererkennungsalgorithmen und benutzerfreundlicher Oberfläche stellt sicher, dass es in der Lage ist, selbst die schwierigsten Defekte effizient und schnell zu identifizieren, zu analysieren und zu quantifizieren.