Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #293598219 zu verkaufen

RUDOLPH/AUGUST NSX 115 ist eine leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die zur Erkennung von Defekten in einer Vielzahl von Halbleiterbauelementanwendungen entwickelt wurde. Dieses System verwendet fortschrittliche Bildgebungstechnologie und fortschrittliche Algorithmen, um eine Vielzahl von Materialien einschließlich fortschrittlicher Verpackung und Optoelektronik zu überprüfen. Es ist in der Lage, bildbezogene Fehler wie Linienbreitenvariationen, Musterverschiebung, offene/gebrochene Schaltungen auf Logik- und Speicherwafern und ultrafeine Cu/Al-Verdrahtung zu erkennen. AUGUST NSX 115 verfügt über ein vollautomatisches integriertes Design, das minimale Bediener erfordert und eine kostengünstige automatisierte Inspektion ermöglicht. Es ist mit leistungsstarken optischen Bildgebungsfunktionen ausgestattet, einschließlich fortschrittlicher Mustererkennung, Wafer Identification Reader (WDIR), Musterinspektionen und automatischer Partikelerkennung. Es bietet auch eine breite Palette von Inspektionsgeschwindigkeiten, einschließlich der schnellen Scangeschwindigkeit und der Präzisionsmessung von Gerätefunktionen. RUDOLPH NSX 115 verfügt über einen hochauflösenden Vollfarbbildschirm und eine intuitive Benutzeroberfläche, die einen schnellen und effizienten Vergleich von Daten aus mehreren Masken und Wafern ermöglicht. Diese Maschine verfügt über eine breite Palette von integrierten Inspektionsmöglichkeiten, einschließlich Stempel-zu-Stempel-Inspektion, Wafer-zu-Wafer-Inspektion und gleichzeitige Stempel-zu-Stempel-und Wafer-zu-Wafer-Inspektionen. Es bietet auch eine einzigartige Mustererkennungsbibliothek zur automatisierten Klassifizierung von Fehlern sowie einen erweiterten Musteranpassungsalgorithmus zur reduzierten Fehlerkennung. Das Tool vereinfacht die Bedienung weiter mit seiner vollautomatischen Vision-basierten Inspektionsfähigkeit, wodurch die manuelle Probeninspektion und die Notwendigkeit kostspieliger Hardware entfallen. Die Mehrzonen-Verifizierungsfunktionen des Asset bieten kostengünstige Lösungen zur Erkennung von Teilfehlern. Darüber hinaus verfügt NSX 115 über eine ausgezeichnete Wiederholbarkeit und Reproduzierbarkeit und bietet eine überlegene Fehlererkennungsempfindlichkeit, was eine überlegene Fehlercharakterisierung und Ausbeuteanalyse erleichtert. Insgesamt ist das Modell RUDOLPH/AUGUST NSX 115 eine vielseitige, leistungsstarke und äußerst kostengünstige Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die den hohen Anforderungen von Halbleiterbauelementanwendungen gerecht wird. Mit seiner fortschrittlichen Bildgebungstechnologie, der schnellen Scangeschwindigkeit und der intuitiven Benutzeroberfläche ist dieses System ein leistungsstarkes Werkzeug zur Erkennung kritischer Fehler und zur Verbesserung des Ertrags.