Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #293751614 zu verkaufen

Das Masken- und Wafer-Inspektionssystem RUDOLPH/AUGUST NSX 115 ist ein hochentwickeltes Inspektionssystem zur Analyse von Halbleiterbauelementen, einschließlich Substratscheiben und Masken. Seine optischen Abbildungs- und Laserscanningfunktionen ermöglichen es dem Benutzer, Defekte an der Oberfläche und im Inneren eines Geräts zu ermitteln. Das System verfügt über eine integrierte Chroma-Inspektionsfunktion, die fortschrittliche Bildgebungstechnologien wie Infrarot- und Ultraviolettscannen verwendet, um Abweichungen in der Farbe der Oberfläche eines Geräts genau zu erkennen, zu klassifizieren und zu messen. Dadurch wird sichergestellt, dass die Komponenten den Industriestandards entsprechen. Darüber hinaus setzt AUGUST NSX 115 ein Stempel-zu-Stempel-Prüfverfahren ein. Dieser Prozess verwendet eine Kamera, um mehrere Bilder von jedem Stempel aufzunehmen und die Bilder für Abweichungen zu vergleichen. Dies kann verwendet werden, um unreine oder kontaminierte Bereiche zu identifizieren, und kann sogar latente Defekte aufdecken, die mit dem bloßen Auge nicht sichtbar sind. RUDOLPH NSX 115 kommt auch mit einer Vielzahl von zusätzlichen Funktionen für die detaillierte Inspektionsanalyse. Dazu gehören facettenreiche Werkzeuge zur Mustererkennung, automatisierte Zoom-on-Defect-Funktionen und die Möglichkeit, schnell Konturen und Beschriftungen von Werkzeugformen zu zeichnen. Es verfügt auch über einen integrierten 4-dimensionalen Ansichtsmodus, der Gerätestruktur und Zusammensetzung in 3-dimensionalen Details anzeigt. Diese ausgeklügelten Inspektionsmöglichkeiten, kombiniert mit seiner hochgenauen optischen Bildgebung, machen NSX 115 ideal für den Einsatz bei der Herstellung von High-End-Halbleiterbauelementen. Es ist eine zuverlässige und kostengünstige Lösung für die genaue Inspektion und Überwachung der Produktion einer breiten Palette von Geräten, sowohl im kommerziellen als auch im Labor.