Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #9391359 zu verkaufen

RUDOLPH/AUGUST NSX 115 Masken- und Wafer-Inspektionsgeräte sind ein hochmodernes Inspektions- und Messtechnikwerkzeug zur Inspektion und Messung von Defekten und Unvollkommenheiten an Halbleiterbauelementen und Wafern. Das System ist in der Lage, Fehler auf Submikron-Ebene zu erfassen und zu erkennen. AUGUST NSX 115 ist die neueste Ergänzung der AUGUST-Linie von Masken- und Wafer-Inspektionssystemen. RUDOLPH NSX 115 ist unter Berücksichtigung des gesamten Waferinspektionsprozesses von der Maske bis zum fertigen Wafer einheitlich ausgelegt. Es enthält fortgeschrittene Inspektionssensoren, darunter vier optische, optische, optische, abgeschirmte und optische Multiview-Mikroskope. Die Maschine enthält auch einen erweiterten Musteranalysator, der in der Lage ist, Fehlertyp, Größe und Standort zu erkennen und zu berichten. Das voll integrierte Umweltkontrollwerkzeug sorgt für eine gleichbleibende Leistung unter verschiedenen Umweltbedingungen. Das automatisierte Teilsystem zur Maskeninspektion von NSX 115 wurde entwickelt, um Waferdefekte während der Auswahl-, Muster- und Montagephasen zu identifizieren und zu melden. Die fortschrittliche Bilderfassungs- und Fehlererkennungstechnologie des Asset bietet erweiterte Funktionen zur Mustererkennung und Parameterextraktion. Darüber hinaus ermöglichen RUDOLPH/AUGUST NSX 115 erweiterte Wafer-Messtechnik-Funktionen Messungen mit Submikron-Auflösung, die eine umfassende Analyse von Maskenmerkmalen und Defekten ermöglichen. Das Modell ist kompatibel mit allen führenden Fertigungsprozessen von Halbleiterbauelementen und umfasst eine einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche, wodurch die Ausrüstung sowohl für die Masken- als auch für die Waferinspektion ideal ist. Darüber hinaus ist AUGUST NSX 115 in der Lage, Fehlerdaten in eine Vielzahl von Softwarepaketen für die endgültige Verifizierung und Berichtsgenerierung zu exportieren. RUDOLPH NSX 115 Maske & Wafer Inspektionssystem bietet eine effektive, zuverlässige Methode zur genauen Inspektion und Messung von Halbleiterbauelementen und Wafern.