Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 320 #9243740 zu verkaufen

RUDOLPH / AUGUST NSX 320
ID: 9243740
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2013
Automated defect inspection system, 8" 2013 vintage.
RUDOLPH/AUGUST NSX 320 ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die eine schnelle, genaue und wiederholbare Analyse von lithographiebasierten Testgeräten ermöglicht. Das System nutzt die fortschrittliche Nanometrie der ADDC-Software (Automatic Defect Detection and Counting), um Fehler in Produktionsscheiben und -masken schnell und genau zu erkennen und zu quantifizieren. Das Gerät wurde entwickelt, um mikroskopische Defekte in den Masken und Wafern zu erkennen und zu quantifizieren. AUGUST NSX 320 bietet präzise Messungen der Waferdicke, kritische und Overlay, Bildqualität, Füllfaktor und Steigung Messungen, sowie topographische Defekte. Die innovative automatisierte Maschine reduziert die Zeit und erhöht die Effizienz von Testgeräten. Das Tool verwendet ein einzelnes Kameradesign mit Doppelansicht-Beleuchtungswinkeln, einer variablen Feldgröße und einem auf Bremssattel basierenden Fokussierungsobjekt, das eine genaue Bildaufnahme und -analyse ermöglicht. Die fortschrittlichen Algorithmen des Modells sind in der Lage, Standorte, isolierte Fehler und komplexe Fehler mit wiederholbarer Genauigkeit und minimalem manuellen Eingriff zu erkennen und zu identifizieren. Die Software verfügt über Prozessbedingungen und Fehlererkennungsunterstützung, Sichtfindungsprozess, automatische Fehlerzählung, automatische Histogramm- und Größenverteilungsanalyse und automatische Fehlererkennung. RUDOLPH NSX 320 ist für einfache Bedienung mit Plug & Play-Funktion, intuitiver grafischer Benutzeroberfläche (GUI) und automatisierter Stapelverarbeitung konzipiert. Das Gerät unterstützt bis zu 8 Wafer unterschiedlicher Größe pro Charge. Darüber hinaus können Benutzer Rezepte definieren und speichern, um Prozessrezepte und -einstellungen zu erfassen und zu speichern, um leicht für wiederholbare und optimierte Tests wiederverwendet zu werden. Das System entspricht SEMI E134 Standard und kann an die Bedürfnisse der Kunden angepasst werden. Insgesamt ist NSX 320 eine fortschrittliche, automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionseinheit, die für eine schnelle, wiederholbare und genaue Analyse von Testgeräten entwickelt wurde. Die Maschine verfügt über ein innovatives Einzelkameradesign für erweiterte Fehlererkennung, intuitive GUI, automatisierte Batch-Verarbeitung, Plug & Play-Fähigkeit und erweiterte Analytik. RUDOLPH/AUGUST NSX 320 bietet zuverlässige, wiederholbare und konsistente Messbilddaten zur Unterstützung von Geräteherstellung, Halbleiterproduktion und Forschung und Entwicklung.
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