Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 320 #9248723 zu verkaufen

RUDOLPH/AUGUST NSX 320 ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage. Das System wurde entwickelt, um ein hohes Maß an Fehlererkennung und Inspektionsmöglichkeiten für eine breite Palette von Anwendungstypen zur Verfügung zu stellen. Es kann sowohl für die Herstellung als auch für die Forschung von Halbleiterchips, Masken und Wafer-Inspektionen verwendet werden. AUGUST NSX 320 Einheit bietet Wafer-Skala Fehlererkennung und Inspektion von undurchsichtigen und gemusterten Funktionen. Die Maschine verfügt über ein optisches Mikroskop mit automatisierten Kameras und Lichtquellen für einfache und effiziente Inspektionen. Eine Online-Bildverarbeitung und Fehlererkennungsalgorithmen ermöglichen es dem Tool, Fehlertypen einschließlich gebrochener Muster, gebrochener Drähte und falsch ausgerichteter Muster genau zu erkennen. Das Asset enthält auch ein Fehlerüberprüfungs- und Analysepaket, mit dem Benutzer vom Modell erkannte Fehler überprüfen und einen Bericht über alle erkannten Ergebnisse erstellen können. Das Gerät verfügt über eine anpassbare Benutzeroberfläche, die intuitive mehrdimensionale Fehlerüberprüfungen bietet, einschließlich Profilebene und Schwellenwertabstimmung. Dadurch ist das System in der Lage, eine breite Palette von routinemäßigen Fehlerüberprüfungs- und Analyseaufgaben durchzuführen, was mehr Flexibilität und Durchsatz ermöglicht. Die Einheit umfasst auch eine Reihe von Fehleranalyse-KEs auf Waferebene. Dazu gehören statistische Klassifizierungstools, die Struktur- oder KE-Variationen identifizieren, wie z. B. Verbindungsfähigkeit, Unregelmäßigkeiten und Formparameter, die mögliche Formfehler anzeigen könnten. Es ermöglicht Benutzern auch, Fehlermuster schnell und genau zu überprüfen. RUDOLPH NSX 320 verfügt zudem über eine einzigartige „Smart Status“ -Funktion, die es der Maschine ermöglicht, Fehlertrends kontinuierlich zu überwachen. Dies ermöglicht die Echtzeit-Überwachung von Fehlern und bietet ein aktuelles Feedback zu Leistung und Effizienz. In Kombination mit anderen Fortschritten wie automatisierter Fehlerklassifizierung und Musteranalyse kann das Tool Fehler schnell und effizient erkennen und analysieren und gleichzeitig verbesserte Fehlererkennungs- und Analysefunktionen bereitstellen. Insgesamt bietet NSX 320 Asset eine robuste, leistungsstarke Inspektionsplattform für Wafer-, Masken- und andere Halbleiteranwendungen. Das Modell bietet Fehlererkennungs- und Analysefunktionen, die in der Branche unerreicht sind. Seine Eigenschaften, Flexibilität und Leistung machen es zu einer idealen Wahl für Unternehmen, die eine tiefgreifende Fehlererkennung und -analyse für ihre Halbleiteranwendungen erreichen möchten.