Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 90 #9222178 zu verkaufen
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ID: 9222178
Wafergröße: 6"-8"
Wafer inspection systems, 6"-8"
With filter unit
Blower
(2) CPU
(2) Totes
Stand.
RUDOLPH/AUGUST NSX 90 Mask & Wafer Inspection Equipment ist ein hochentwickeltes und spezifisches Wafer-Inspektionssystem, das die Qualitätskontrolle von Siliziumwafern für die Halbleiterindustrie gewährleistet. Die Ultrahochgeschwindigkeitskameras des Geräts erfassen Bilder von bothabove und unter dem zu untersuchenden Wafer und bieten eine Gesamtansicht der Oberfläche des Wafers um 360 Grad. Dadurch können eventuell vorhandene Fehler in einem Wafer schnell erkannt werden, so dass der Bediener die Qualität des Wafers schnell und genau bestimmen kann, ohne die Waferoberfläche manuell überprüfen zu müssen. Die Maschine verfügt außerdem über eine automatische Fehlererkennungstechnologie, um weitere Effizienz und Genauigkeit zu gewährleisten. Diese Technologie ermöglicht es dem Werkzeug, schnell und genau die häufigsten Arten von Defekten in einem Wafer zu identifizieren. Dazu gehören heiße und tote Pixel, dunkle Flecken, Maskendefekte, Kratzer, Verunreinigungen und andere häufige Defekte. Mit dieser Technologie kann das Asset Fehler erkennen, auch wenn sie mit bloßem Auge extrem klein oder schwer zu sehen sind. Neben der Fehlererkennungstechnologie umfasst AUGUST NSX 90 auch die Dual-Beam Brightfield/Darkfield-Bildaufnahme und eine breite Palette von Bildgebungsoptionen. Die zweistrahlige Brightfield/Darkfield-Bildaufnahme ermöglicht es dem Modell, hochauflösende Bilder mit hellen und dunklen Kontrasten zu erfassen. Dies erleichtert die Identifizierung kleiner Fehler an Wafern, die sonst unbemerkt bleiben würden. Darüber hinaus umfasst die Ausrüstung auch eine auswählbare Kontrastverbesserung, eine Farbschraffur und eine Vielzahl anderer Bildmanipulationen. RUDOLPH NSX-90 enthält auch eine Reihe von zusätzlichen Funktionen, die es besonders nützlich für die Durchführung Wafer Qualitätskontrolle macht. Dazu gehören ein On-Board-PC, eine intuitive Benutzeroberfläche, digitale Berichtsgenerierung und Kommunikationsmöglichkeiten. Darüber hinaus verfügt das System über eine Kalibriervorrichtung für Benutzerfreundlichkeit und Genauigkeit. Letztlich ist NSX-90 eine ideale Einheit für schnelle und genaue Wafer-Inspektionen. Die fortschrittliche Fehlererkennungstechnologie und eine breite Palette von bildgebenden Funktionen machen es zu einem effizienten und zuverlässigen Werkzeug für die Qualitätskontrolle und -sicherung, um die Integrität des fertigen Produkts sicherzustellen.
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