Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 95 #9207041 zu verkaufen

RUDOLPH/AUGUST NSX 95 Mask & Wafer Inspection Equipment ist eine hochpräzise Hochdurchsatzmaschine zur Inspektion und Analyse von Masken und Wafern, die bei der Herstellung von Halbleiter- und opto-elektronischen Bauelementen verwendet werden. Das System verwendet eine laserbasierte optische Strahlabgabeeinheit und hochauflösende Bildgebung, um detaillierte Oberflächenstrukturanalysen, Fehlertests und andere Inspektionen durchzuführen. Die Maschine besteht aus zwei Hauptkomponenten: der Vision Station, wo die Masken und Wafer beladen und inspiziert werden; und die Inspektionsstation, in der der lasergesteuerte optische Strahl verwendet wird, um die Gleichmäßigkeit der Oberflächentextur zu messen und zu überprüfen. Die Sehstation ist mit einem Bildsensor und einem computergesteuerten Kamerakopf ausgestattet, der Bilder der Oberfläche des Wafers erfasst. Spezialisierte Software verarbeitet diese Bilder, so dass Punktfehler identifiziert und komplizierte Oberflächeneigenschaften gemessen werden können. Die Inspektionsstation ist mit einer Laserstrahlmaschine ausgestattet, um die Oberfläche der Maske und/oder des Wafers genau abzubilden. Das Werkzeug verwendet einen spezialisierten Lichtwellenleiter-Strahlteiler, der den Laserstrahl in mehrere diskrete Strahlen aufteilt, um die Oberfläche des Wafers oder der Maske neu abzubilden. Diese Strahlen werden auf die Oberfläche fokussiert und von einem CCD-Array gesammelt und dann erneut kombiniert, um ein Bild der Oberfläche zu erzeugen. Dieses Bild wird von spezialisierter Computersoftware analysiert, um Inspektionen wie Messung der Oberflächenrauhigkeit, Linienbreiten und andere Merkmale durchzuführen. Das Asset bietet zudem eine leistungsstarke Software-Suite für Qualitätsmanagement, Defect Mapping und Wafer-Tracking. AUGUST NSX-95 Mask & Wafer Inspektionsmodell wurde entwickelt, um die strengen Anforderungen der Halbleiterindustrie zu erfüllen und bietet überlegene Leistung und Zuverlässigkeit bei gleichzeitiger Reduzierung von Prozesszykluszeiten und -kosten. Seine Fähigkeit, Oberflächentextur und andere Eigenschaften genau zu messen, macht es zu einem wertvollen Werkzeug für Hersteller von Halbleiter- und optoelektronischen Bauelementen.