Gebraucht RUDOLPH / AUGUST NSX 95 #9395555 zu verkaufen
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ID: 9395555
Wafergröße: 6"-8"
Defect inspection system, 6"-8"
XANDEX 350-0002 Pneumatic die marker controller
Objectives: 1x, 2x, 5x, 10x, 20x
PC.
RUDOLPH/AUGUST NSX 95 Maske & Wafer Inspektion Ausrüstung ist ein vielseitiges, Hochleistungssystem für die zuverlässige Inspektion von Masken und Wafern in Halbleiter, Flachbildschirm und Mikroelektronik Fertigung. AUGUST NSX-95 ist in der Lage, sowohl topologische als auch Overlay-Defekte zu erkennen und verfügt über die Fähigkeit zur Vollschichtinspektion. Die Einheit verwertet einen brightfield / Doppelfarbe brightfield / DUV übertragbare Schautechnologie, die Benutzer mit der Fähigkeit versorgt, sowohl für topologische Defekte als auch für Bedeckungsdefekte auf dem Single - sowie Vielfache-Siked-Oblaten zu untersuchen. Die hohe Dynamikbereichserkennung von RUDOLPH NSX 95 in Verbindung mit seiner hochpräzisen Positionierung ermöglicht die Verwendung jeder Kombination von TFT- und LCD-Substraten, einschließlich LCD-Flachbildschirmen, Masken und Wafern. NSX 95 ist mit herkömmlichen automatischen Fokussierungs- und Auto-Slack-Ausrichtungstechnologien (ASA) ausgestattet, die es ermöglichen, das Substrat während der Inspektion genau zu scannen. Es verfügt auch über Automatic Binning Counter (ABC), die statistische Inspektion basierend auf komplexen Arrays von Fehlerfunktionen ermöglicht und automatisierte Objekterkennung ermöglicht. Das hochempfindliche Licht-Integration-Timing der Maschine ist in der Lage, Linienstrukturen von 0,1 um zu inspizieren und unterstützt mehrere Zonen-/Substrat-/Pixel-Feldeinstellungen. Es ist auch mit PowerPC 417 und einem universellen Ein-/Ausgabewerkzeug ausgestattet, das eine schnelle und genaue Einrichtung und Inspektion ermöglicht. Zu den fortschrittlichen Tools gehören eine Pattern Match Library, Multi-Defect Monitoring (MDM) für die Inspektion an mehreren Standorten, True Eye-Technologie zur Fehlererkennung, True Cog zur Unterscheidung von redundanten Fehlern, hochempfindlicher Drucker zur Fehlererfassung und eine PC-Netzwerkschnittstelle für den Fernzugriff und die Steuerung. Darüber hinaus verfügt AUGUST NSX 95 über eine flexible und modulare Softwarearchitektur, die einen benutzerfreundlichen, schrittweisen Betrieb ermöglicht. Automatisierte Automatisierungsfunktionen sind enthalten, um die Rüstzeiten zu beschleunigen und zuverlässige Datengenauigkeit zu gewährleisten. Die umfassenden Serviceangebote und der lokale Support des Modells bieten umfassende Unterstützung für Kunden, die routinemäßige Wartungen oder Reparaturen benötigen. Insgesamt ist das Masken- und Wafer-Inspektionssystem NSX 95 ein außergewöhnliches Werkzeug für die Fehleranalyse, Qualitätskontrolle und Prozesskontrolle. Es hat die Fähigkeit, sowohl topologische als auch Overlay-Defekte auf Masken und Wafern in einer Vielzahl von Substraten genau zu erkennen und ist mit leistungsstarken Tools für Datenanalyse und Automatisierung ausgestattet. Mit seiner zuverlässigen Leistung, Service und Unterstützung ist dieses Gerät eine ideale Wahl für Halbleiter-, Flachbildschirm- und Mikroelektronik-Fertigungsoperationen.
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