Gebraucht RUDOLPH NSX 115 #9212440 zu verkaufen

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RUDOLPH NSX 115
Verkauft
ID: 9212440
Macro defect inspection system.
RUDOLPH NSX 115 ist ein High-End-Masken- und Wafer-Inspektionsgerät von RUDOLPH, einem führenden Anbieter von Think-Through-optoelektronischen Lösungen. NSX 115 bietet kritische Inspektionsmöglichkeiten für eine Vielzahl von Materialien und Anwendungen in der Halbleiterindustrie. Es verwendet ein fortschrittliches Abbildungsoptiksystem, um subtile Unterschiede in Gerätegeometrien oder Defekten bis zu 0,2um zu erkennen. RUDOLPH NSX 115 besteht aus zwei primären Komponenten: der Inspection Processor Unit und der AccuVision Cloud Processing, die zusammenarbeiten, um umfassende Fehlererkennungs- und Analysefunktionen bereitzustellen. Die Inspektionsprozessormaschine ist eine integrierte Hardwareplattform, die die Kamera, das Datenverarbeitungstool und andere Hardwarekomponenten umfasst, die die Datenerfassungs- und -verarbeitungsaufgabe unterstützen. Das Asset AccuVision Cloud Processing ermöglicht die Echtzeit-Bildverarbeitung und -Funktionsextraktion für anspruchsvolle Anwendungen. NSX 115 ist für High-End-Produktionslinien konzipiert, die 100 Prozent der Wafer und Masken schnell und präzise auf Defekte und Mustermessungen scannen können. Es verfügt über ein automatisiertes Lasertriangulationswerkzeug, um kritische Abmessungen in Teilen genau zu messen, während seine Hochgenauigkeitsalgorithmen eine schnelle und genaue Fehlererkennung und -klassifizierung sowohl für Masken- als auch für Waferoberflächen durchführen. Die Kombination von Geschwindigkeit und Genauigkeit von RUDOLPH NSX 115 wird durch seine dynamischen Datenanalysefähigkeiten weiter ergänzt. Das Modell ist in der Lage, mehrere Inspektionstypen in einer einzigen Analyse zu kombinieren, so dass Chiphersteller-Kunden mehr Sichtbarkeit und Kontrolle über Produktionsprozesse haben. Die Daten aus der detaillierten Fehleranalyse des Geräts können in statistische Prozesskontrollmodule eingespeist werden, wodurch der Fehlererkennungsprozess effektiv gestrafft und sichergestellt wird, dass der Produktionsprozess den Kunden- und Branchenstandards entspricht. Abgesehen von seinen technischen Fähigkeiten ist NSX 115 auch mit Blick auf Benutzerfreundlichkeit konzipiert. Eine intuitive Benutzeroberfläche erleichtert die Schulung von Betreibern und sorgt dafür, dass das System bei minimaler Rüst- und Kalibrierungszeit konsistente Ergebnisse erzielt. Darüber hinaus stellen Selbstüberwachungs- und Wartungsfunktionen sicher, dass das Gerät in einem Spitzenzustand bleibt und seine Aufgaben mit minimalen Unterbrechungen ausführen kann. Insgesamt ist RUDOLPH NSX 115 ein umfassendes und zuverlässiges Werkzeug für die Inspektion und Analyse von Masken und Wafern in der Halbleiterindustrie. Es ermöglicht Anwendern erweiterte Bildgebungs- und Analysefunktionen, die höchste Qualität und Genauigkeit für alle Produktionslinien gewährleisten. Ob zur Prüfung von Geometrien, zur Fehlererkennung oder zur Durchführung komplexer Inspektionen - NSX 115 ist eine leistungsfähige und zuverlässige Lösung.
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