Gebraucht RUDOLPH Waferview 320 #9234643 zu verkaufen

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ID: 9234643
Macro defect inspection systems 2006 vintage.
RUDOLPH Waferview 320 ist eine hochauflösende Masken- und Waferinspektionsausrüstung, die für fortgeschrittene Inline-Defektinspektionsaufgaben entwickelt wurde. Das System bietet eine einzigartige Kombination von Funktionen, um eine automatisierte, qualitativ hochwertige Inspektion von Masken und Wafern mit feiner Funktionsgröße zu ermöglichen. Das Gerät wird von einer hellen, hochfesten 7-Mikron-Pixel-Auflösung CCD-Kamera gepaart mit einem 19/18/12um NA Dual-Achsen-Beleuchtungszug angetrieben. Dies ermöglicht eine unübertroffene Präzision der Wafer- und Maskeninspektion mit großer Klarheit. Die Maschine verfügt außerdem über eine intuitive Wafer-Handhabung und eine sechsachsige Roboter-Ausrichtung, die die Flexibilität und Vielseitigkeit der Roboter- und Wafer-Positionierung erhöht. Die Inspektionsalgorithmen umfassen mehrere Waferinspektionstechniken, einschließlich topographischer Kartierung, Autofokus, Defektmapping, Funktionsdifferenzierung und schnelles Gehen/No Go. Diese Algorithmen werden durch umfassende Datenbankintegrationen und ein integriertes Fehlerverfolgungstool ergänzt, das innerhalb von Minuten subtile Unterschiede in Waferformen, -merkmalen und -texturen erkennen kann. Waferview 320 verfügt auch über einen optimierten Lichtweg, der die gesamte Bandbreite an Bilddetails ausnutzt und steuert, wodurch eine vollständige Abdeckung von Rand zu Rand gewährleistet ist. Dies ermöglicht die branchenführende Erkennung unterschiedlichster Defekte, von großen bis hin zu empfindlichen, nahezu unsichtbaren Defekten. Darüber hinaus verfügt das Asset über einen automatisierten Prozess zur Leerschleifen- und Mustererkennung, mit dem die Prozessqualität jederzeit ausgewertet und erkannte Fehler in prozessbezogene Koordinaten abgebildet werden können. Die Konstruktion des Modells ist robust und modular, minimiert mechanische Vibrationen und sorgt für eine stabile Plattform. Die mechanischen und optischen Daten sind eng in eine unteilbare Einheit integriert, so dass Benutzer Zeit sparen können, indem sie nicht mit mehreren separaten Teilen umgehen. Insgesamt ist RUDOLPH Waferview 320 Maske und Wafer Inspektion Ausrüstung ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug für jede industrielle Anwendung. Es verfügt über umfassende Funktionen, mit denen Benutzer Fehler effektiv erkennen und überprüfen können, und ein intuitives Design, das einen besseren Workflow ermöglicht. Durch die Kombination seiner weltweit führenden Auflösung, Präzision und Genauigkeit mit seinem robusten und modularen Design wird dieses System sicherlich helfen, Inspektionen zu rationalisieren und qualitativ hochwertige Ergebnisse zu garantieren.
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