Gebraucht RUDOLPH Waferview 320 #9311788 zu verkaufen

RUDOLPH Waferview 320 ist eine hochmoderne Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für den Einsatz in Halbleiterherstellungsanlagen. Das System ist hochautomatisiert und verfügt über verschiedene Sicht- und Waferinspektionstechnologien, um vorhandene Fehler zu erkennen und zu diagnostizieren und Herstellern eine beispiellose Kontrolle über den Produktionsprozess zu bieten. Von der Messung der Düsengröße bis zur Analyse von Partikeln bietet die RUDOLPH Waferview-Einheit beispiellose Genauigkeit und Zuverlässigkeit. Die Maschine ist sowohl für die optische als auch für die Röntgenwafer-Inspektionstechnik optimiert. Waferview 320 verwendet eine Beleuchtung mit variablem Einfallswinkel, um konsistente Bilder zur Überprüfung und Messung zu erfassen. Darüber hinaus verfügt das Tool über einen 12 "Automated Defect Review Turntable und ist mit einer präzisen linearen Stufe ausgestattet, die eine automatisierte Ausrichtung von Wafern ermöglicht. Darüber hinaus ermöglichen die Fähigkeiten zur Erkennung von Makrogeräten und die Mustererkennung schnelle und effiziente Inspektionsprozesse. RUDOLPH Waferview 320 bietet auch eine Reihe von erweiterten Funktionen, die jedes Mal präzise Ergebnisse gewährleisten. Mit den von RUDOLPH patentierten Multimode-Funktionen können Benutzer je nach Bedarf schnell und einfach zwischen verschiedenen Inspektionsmodi wechseln. Waferview 320 bietet auch fortschrittliche Techniken zur Fehleranalyse und -charakterisierung, einschließlich Partikelanalyse, 3D-Messung oder Achsenerkennung, sowie fortschrittliche Fehlerflächenmessung mit mehrstufigen Patches und Dual-Channel-Detektionen. RUDOLPH Waferview 320 ist auch sehr anpassbar. Das Modell kann auf die Bedürfnisse der Anwender in jeder Branche zugeschnitten werden und bietet eine Vielzahl von Optionen für individuelle Anwendungen. Waferview 320 kann auch an eine Reihe von Laborkonfigurationen und Produktionsanforderungen angepasst werden, gewährleistet eine einfache Wartung und Upgrades im Laufe der Zeit. Schließlich ist RUDOLPH Waferview 320 eine robuste Ausrüstung, die Anwendern beispiellose Genauigkeit und Zuverlässigkeit während des gesamten Inspektionsprozesses bietet. Ob zur allgemeinen Automatisierung, Testfahrt, Wafer-Level-Analyse, Partikelmessung oder Fehlercharakterisierung, Waferview 320 ist eine Bereicherung für jede Halbleiterherstellungsanlage. Darüber hinaus machen die intuitive Benutzeroberfläche und die schnelle Verarbeitungsgeschwindigkeit des Systems die Bedienung für alle einfach, unabhängig von ihrem Erfahrungsniveau.