Gebraucht RUDOLPH WV 320 #9247834 zu verkaufen

RUDOLPH WV 320 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um Halbleitermasken und Wafer schnell und genau zu inspizieren. Da Halbleiterkonstruktionen immer komplexer werden, mit dichteren und feineren Merkmalsgrößen, sind Masken- und Wafer-Inspektionssysteme unerlässlich, um höchste Erträge und Qualität der Produkte zu gewährleisten. RUDOLPH WV320 wird mit einem 16 Millionen Megapixel, Hochleistungs-20-Bit-Bildsensor und galvanometric Abtastung der Spiegeltechnologie ausgestattet, um schnelle und effiziente Defektscans zu unterstützen. Unterstützt ein maximales Sichtfeld von bis zu 200mm x 200mm, optimiert das System Inspektionsvorgänge mit einer maximalen Scangeschwindigkeit von bis zu 120mm pro Sekunde. Mit der Tiefenfokusfähigkeit des WV 320 kann es auch kleinste Defekte im Wafer oder in der Maske erkennen, egal ob sie sich am Rand des Sichtfeldes oder am Boden des Wafers befinden. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein breitbandiges Detektionsfilter, eine omnidirektionale Selbstkalibrierung und eine dreidimensionale Tiefenableitung für bestmögliche Abbildungsergebnisse. Dies ermöglicht es der Maschine, auch die schwierigsten Fehler zu erkennen, wie Nadelöcher, kurze Hosen, Isolationsfehler usw. Darüber hinaus unterstützt das Tool ein breites Spektrum an Inspektionsszenarien, von 2D-to-3D Abstimmungsfehlererkennung über die Vorder-/Rückseite-Chip-Ausrichtung bis hin zur Querschnittstopographie-Analyse sowie den Stanzvergleich. Für maximale Zuverlässigkeit und Effizienz verfügt das Asset auch über heißen/kalten nichtflüchtigen RAM sowie eine benutzerfreundliche GUI und Datenspeicherung für wiederholbare Wafer/Maskenanalysen. Darüber hinaus ist das Modell für die Arbeit mit einer breiten Palette von bildgebenden Software, einschließlich RUDOLPH MaskControl, eine umfassende funktionsreiche Maske und Fehleranalyse und Inspektion Paket. In Kombination mit anderen RUDOLPH-Masken- und Wafer-Inspektionssystemen bietet WV320 eine fortschrittliche Inspektion mit einer schnellen und genauen Wafer/Masken-Analyse, die die höchsten Erträge erzielt und höchste Qualität und Zuverlässigkeit gewährleistet.