Gebraucht RUDOLPH WV 320 #9248810 zu verkaufen

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ID: 9248810
Wafergröße: 12"
Macro defect inspection system, 12" (2) BROOKS Loadports with FOUP Loadports carrier reader: RFID Type YASKAWA Robot Light source: Head: 20 um Xenon flash lamps Wavelength range: 480-750 nm Resolution: Above 25 um Function: YVS Server 3D Defect image generation Auto Defect Classification (ADC) function.
RUDOLPH WV 320 ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage. Es ist für den Einsatz im Halbleiterherstellungsprozess konzipiert, um Fehler in der Waferbearbeitung zu erkennen und zu minimieren. Dieses System hilft, die Produktionskosten zu senken und die Produktqualität zu erhöhen. Das Gerät ist eine 3-Achsen-Masken- und Wafer-Inspektionsmaschine, die auf fortschrittlicher Scan-Bildgebungstechnologie basiert. Es umfasst einen fortschrittlichen automatisierten Bühnenmechanismus mit einer robusten und präzisen zweidimensionalen Scanfunktion sowie ein Vergrößerungssteuerungswerkzeug. Die Anlage ist in der Lage, eine Vielzahl von automatischen Masken- und Wafer-Inspektionen durchzuführen. Es kann Submikrondefekte wie Musterunterschiede, Partikel und andere Oberflächenunregelmäßigkeiten erkennen. Das Modell ist auch in der Lage, fehlerhafte Drucke auf Wafern durch Verunreinigungen oder Deruba-Fehlprüfung zu erkennen. Die Geräte können Bereiche von 200mm bis 400mm scannen, je nach Art der zu inspizierenden Wafer. Das integrierte Vergrößerungssteuerungssystem ermöglicht das präzise Zoomen und Drehen von Bildern in Echtzeit für eine verbesserte Inspektionsgenauigkeit. Eine erweiterte Bildschirmmessfunktion ermöglicht es dem Bediener, Fehlergrößen mit einfach zu bedienenden Mausklicks genau zu messen. Das Gerät ist auch mit einem True Color Display ausgestattet, das eine 4K-Auflösung bietet, die reichere und detailliertere Bilder ermöglicht. Die Maschine ist benutzerfreundlich und kann einfach bedient und gewartet werden. Das Tool verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche und verfügt über eine umfangreiche Bibliothek mit vorkonfigurierten Einstellungen wie Beispielmustern, Beleuchtungseinstellungen, Messkriterien und Maskenakzeptanzkriterien. Dies ermöglicht schnelle und genaue Rüstzeiten und eine optimale Steuerung. Das Asset verfügt auch über eine integrierte FITS-Funktionalität, die in der Lage ist, Inspektionsarbeiten zu archivieren und zu verfolgen. Diese Funktion ermöglicht es dem Bediener, Daten in digitaler Form zu speichern und Fehler schnell zum Vergleich zurückzurufen. RUDOLPH WV320 Masken- und Wafer-Inspektionsmodell ist eine effektive Lösung, um höchste Genauigkeit und Wiederholbarkeit für die Wafer-Produktion zu gewährleisten. Der fortschrittliche automatisierte Bühnenmechanismus, die Vergrößerungssteuerungsausrüstung, die intuitive Benutzeroberfläche und das robuste True Color Display bieten eine beispiellose Qualitätskontrolle für die anspruchsvollsten Halbleiteranwendungen.
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