Gebraucht RUDOLPH WV 320 #9355327 zu verkaufen
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ID: 9355327
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2007
Macro defect inspection system, 12"
2007 vintage.
RUDOLPH WV 320 ist eine fortschrittliche, leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung. Es ist mit einem Hochgeschwindigkeits-CMOS-Sensor ausgestattet und verfügt über eine integrierte statische und dynamische Inspektionsfähigkeit. Das System unterstützt die Inspektion von Masken- und Waferobjekten bis hin zu jenen, die heute in modernsten Halbleiterprozessen verwendet werden. RUDOLPH WV320 verfügt über eine innovative, hochkonfigurierbare Messtechnik. Diese automatisierte Messtechnik ermöglicht schnelle und wiederholbare Messungen der kritischen Abmessungen und Eigenschaften von Masken- und Waferobjekten. Es bietet automatisierte Fehler- und Funktionsanalysen, automatisiertes Reporting und umfassende Ergebnisverfolgung. Die hochauflösende CMOS-Bildgebungs- und Inspektionsfähigkeit des Geräts ermöglicht es Anwendern, schnelle und genaue Entscheidungen über die Qualität ihrer Masken und Wafer zu treffen. Darüber hinaus können Benutzer Fehlererkennungsfunktionen nutzen, um Fehler in Masken- und Waferobjekten schnell zu identifizieren. Darüber hinaus ist WV 320 mit erweiterten Bildnachbearbeitungsfunktionen ausgestattet. Dazu gehören Funktionen zum Schärfen von Bildern, zur genauen Identifizierung und Auflösung von Funktionen sowie die Bildfilterung, um die akzeptablen Bereiche von Funktionen und Fehlern zu ermitteln. WV320 verfügt über ein hohes Maß an Flexibilität in der Algorithmuskonfiguration, so dass Anwender schnell und einfach bestimmte Algorithmen auswählen können, um ihre Produktionsanforderungen zu erfüllen. Darüber hinaus kann es konfiguriert werden, um mit Multi-Kamera-Anwendungen zu arbeiten, so dass Benutzer die Skalierbarkeit der Maschine nutzen können. RUDOLPH WV 320 bietet Anwendern auch eine Reihe leistungsfähiger Analysewerkzeuge, die für anspruchsvolle Fehler-, Ertrags- und statistische Analysefunktionen entwickelt wurden. Darüber hinaus bietet es Anwendern umfassende interaktive Anzeige- und Berichtsfunktionen. Beide Komponenten helfen Benutzern, die Qualitätskontrolle zu gewährleisten und Probleme schnell und effizient zu beheben. Insgesamt ist RUDOLPH WV320 ein fortschrittliches Masken- und Wafer-Inspektionswerkzeug, das sich für anspruchsvollere Halbleiterprozesse eignet. Es umfasst robuste Inspektionsfunktionen, automatisierte und konfigurierbare messtechnische Funktionen und leistungsstarke Analysefunktionen. Daher ist es eine ideale Wahl für Anwender, die ihren Produktionsertrag und ihre Qualitätskontrolle verbessern möchten.
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