Gebraucht RUDOLPH WV 320 #9355361 zu verkaufen
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ID: 9355361
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2007
Macro defect inspection system, 12"
2007 vintage.
RUDOLPH WV 320 ist eine hochentwickelte Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung für die Halbleiterindustrie. Es ist mit der neuesten Bildverarbeitungstechnologie ausgestattet, um Fehler auf Wafern und Masken genau zu erfassen und zu messen. Das System verfügt über hochauflösende Optik und LED-Beleuchtung, um ein Bild der Masken und Wafer mit außergewöhnlichen Details zu erstellen. Der Hauptrahmen von RUDOLPH WV320 ist einfach zu montieren und flexibel genug, um eine breite Palette von Anforderungen zu erfüllen. Es ist auch mit einer Monitorschnittstelle ausgestattet, die es dem Bediener ermöglicht, Waferbewegungen und Fehlerstellen einfach zu überwachen. Das Gerät ist so konzipiert, dass es bei Inspektionsaufgaben eine konkurrenzlose Genauigkeit liefert und eine hervorragende Leistung bei der Erkennung von Fehlern bietet. WV 320 verwendet fortschrittliche Technologien, um Wafer und Masken genau zu messen. Eine integrierte 20-Megapixel-Kamera nimmt hochauflösende Bilder mit bis zu 16 Millionen Pixeln Auflösung auf. Dadurch kann die Maschine winzige und mikroskopische Defekte in Masken und Wafern erkennen. Die integrierte Software bietet darüber hinaus einen außergewöhnlichen Defektkontrast und zeichnet selbst den geringsten Fehler aus. WV320 verfügt auch über eine spezielle Software, die erweiterte Bildverarbeitungsalgorithmen enthält, die Funktionen von Wafern und Masken erkennen und messen können. Die Software kann Muster und Defekte analysieren und an bekannte Muster für präzise Messungen und Ergebnisse anpassen. Darüber hinaus verfügt RUDOLPH WV 320 auch über eine intuitive Benutzeroberfläche, die es dem Bediener ermöglicht, Waferparameter einzustellen und mehrere Wafer im selben Auftrag zu überprüfen. Seine automatische Rekalibrierung gewährleistet präzise Wafer- und Maskenmessungen und ist damit ein unschätzbares Gut für jeden Halbleiterherstellungsprozess. Darüber hinaus verfügt das Tool über eine breite Palette von Ausgabeformaten für Datenberichte, die eine effiziente Datenspeicherung und -abfrage gewährleisten. Abschließend ist RUDOLPH WV320 eine innovative Masken- und Wafer-Inspektion, die den Anforderungen der Halbleiterindustrie gerecht wird. Es ist mit fortschrittlichen Bildverarbeitungsalgorithmen, 20 Megapixel-Kameras, leistungsstarker Optik und intuitiven Benutzeroberflächen und Ausgabeformaten ausgestattet, die es zu einem unglaublich zuverlässigen und vielseitigen Modell machen. Darüber hinaus macht seine Genauigkeit bei der Messung von Wafern und Masken es zu einem wertvollen Vorteil in jedem Halbleiterherstellungsprozess.
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