Gebraucht RUDOLPH WV 320 #9355398 zu verkaufen

RUDOLPH WV 320
ID: 9355398
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2005
Macro inspection system, 12" 2005 vintage.
RUDOLPH WV 320 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die zur Erkennung von Defekten auf der Oberfläche von Halbleiter- und Speicherchips verwendet wird. Dieses System verwendet fortgeschrittene Mustererkennungs- und Klassifizierungsalgorithmen, wie z. B. faltbare neuronale Netze (CNN), um Auffälligkeiten in Oberflächenmustern schnell und genau zu erkennen. Das Gerät ist in der Lage, Fehler in kürzerer Zeit als manuelle Inspektion zu identifizieren, weshalb es in der Halbleiterindustrie weit verbreitet ist. RUDOLPH WV320 Maschine verwendet eine CCD-Kamera für die Bildgebung. Die Bildauflösung kann bis zu 4,8 Megapixel betragen. Eine optische Linse wird verwendet, um eine genaue Bildgebung zu gewährleisten. Die Lichtquelle ist entworfen, um die Probe für hohe Genauigkeit gleichmäßig zu beleuchten. Das Kernmerkmal von WV 320 ist seine Mustererkennungsalgorithmen. Das Werkzeug kann Oberflächenmuster aufnehmen, die Defekte auf den Spänen darstellen. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Defektmustern zu klassifizieren, die von Gruben, Partikeln, Hohlräumen, Kratzern und mehr reichen. Die Klassifizierung basiert auf drei Kategorien: positiv, negativ und unsicher. Positive und negative Defekte werden entsprechend der Geometrie der Oberfläche identifiziert. Unsichere Mängel sind nicht identifizierte Muster, die einer weiteren Prüfung oder Analyse bedürfen. Das Asset kann sowohl subtile als auch große Fehler identifizieren und klassifizieren. Es hat auch erweiterte Interpolationsalgorithmen, die es erlauben, auch winzige Fehler zu identifizieren. WV320 wird mit einer speziellen Software geliefert, mit der Bediener die Genauigkeit und Empfindlichkeit des Modells anpassen können. Insgesamt ist RUDOLPH WV 320 eine leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die eine schnelle und genaue Erkennung von Oberflächenfehlern ermöglicht. Es verfügt über erweiterte Mustererkennungs- und Klassifizierungsalgorithmen, die es zu einer zuverlässigen Lösung für die Halbleiterindustrie machen. Das System ist einfach zu bedienen, und seine einstellbare Genauigkeit und Empfindlichkeit macht es sehr einfach zu bedienen. Aus diesem Grund ist RUDOLPH WV320 eines der beliebtesten Masken- und Wafer-Inspektionssysteme auf dem Markt.
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