Gebraucht RUDOLPH WV 320 #9391422 zu verkaufen

RUDOLPH WV 320 Mask & Wafer Inspektion Ausrüstung ist ein automatisiertes, Hochleistungssystem entwickelt, um schnelle und genaue Wafer Defekt Erkennung zu bieten. Das Gerät nutzt hochmoderne hochauflösende Mikroskopie (HRM), um Defekte auf Wafern und anderen Substraten automatisch zu beurteilen. Die Maschine besteht aus einem Großrechner, einem hochauflösenden Mikroskop und einer Reihe von bildgebenden Systemen und Detektoren. RUDOLPH WV320 Mask & Wafer Inspection Tool ist in der Lage, eine breite Palette von Substratfehlern zu erkennen, einschließlich offener Defekte, unvollständiger Probenränder und ungleichmäßiger Materialdicke. Das Asset nutzt ein spezialisiertes Kameramodell und eine fortschrittliche Software, um Wafer und andere Substrate mit einer Auflösung von bis zu 10 Nanometern abzubilden. Auf diese Weise kann das Gerät auch den kleinsten Defekt auf einem Substrat erkennen, was höchste Genauigkeit bei der Fehlererkennung ermöglicht. WV 320 Mask & Wafer Inspection System bietet eine Reihe von Funktionen. Es kann eine Vielzahl von Materialien erkennen, einschließlich Glas, Silizium-Wafer und Polymersubstrate. Es verfügt auch über integrierte Funktionen wie Ionenoberfläche und Selektivität. Auf diese Weise können Benutzer auswählen, nach welchen bestimmten Fehlertypen das Gerät suchen soll. Darüber hinaus bietet die Maschine drei Ebenen der Fehlererkennung, einschließlich weicher und harter Defekte, sowie Kartierung der Substratbedingungen. Das Tool bietet auch eine Reihe leistungsfähiger Softwarefunktionen, einschließlich automatischer Auftragsplanung, Substratüberprüfung und automatischer Fehlerinspektion. Darüber hinaus bietet es ein erweitertes Datenmanagement auf Unternehmensebene, mit dem Benutzer Daten aus mehreren Quellen suchen, speichern und verwalten können. Das Asset ist auch für die einfache Integration mit anderen Systemen konzipiert und ermöglicht den nahtlosen Übergang von Fehlerinformationen von einem Modell zum anderen. WV320 Mask & Wafer Inspektion Ausrüstung ist entworfen, um das Leben für Wafer Hersteller und Substrat Defekt Beurteilung Profis zu erleichtern. Es bietet schnelle, genaue Ergebnisse mit minimalem Benutzereingriff und erfordert keine speziellen Kenntnisse oder Fähigkeiten zu bedienen. Dieses System ist die ideale Wahl für jeden Waferhersteller, der seine Genauigkeit und Effizienz bei der Beurteilung von Substratfehlern erhöhen möchte.