Gebraucht SEMILAB / SDI C FORS 156 #293588082 zu verkaufen

SEMILAB/SDI C FORS 156 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die eine automatisierte, berührungslose Messung und Inspektion von Halbleiterscheiben und Masken ermöglicht. Das System kombiniert überlegene Bildanalysetechnologie mit fortschrittlicher Robotik für schnelle und genaue Qualitätskontrolle. Die Einheit besteht aus einem Abbildungskopf, einer Inspektionskammer und einem Bedienpult. Der Abbildungskopf enthält eine Farbkamera und eine ultraschwache CCD-Kamera zur Detailinspektion. Beide Kameras können Echtzeitbilder mit hohen Bildraten und Auflösungen bis zu 8MP aufnehmen. Darüber hinaus verfügt der Abbildungskopf über erweiterte Spektroskopie-Fähigkeiten sowie ein 3D-Profilometer. Die Inspektionskammer ist eine abgedichtete Umgebung, die bei wechselnden Lichtverhältnissen eine gleichbleibende Bildqualität gewährleistet. Es wurde entwickelt, um den Abbildungskopf zu schützen und eine minimale Vibration zu gewährleisten. Die Kammer ist vollständig umschlossen ohne Benutzerzugangspunkte, so dass sie für den Einsatz im Reinraum geeignet ist. Die Steuerungskonsole von SDI C FORS 156 ermöglicht es Benutzern, Bilder zu erfassen, Daten zu analysieren und Fehler zu ermitteln und die Maschine in einwandfreiem Zustand zu halten. Es nimmt Informationen vom Bildaufnahmekopf, verarbeitet sie und zeigt sie auf einem 24-Zoll-LCD-Display an. SEMILAB C FORS 156 umfasst auch optionale Funktionen zur Datenintegration, Qualitätskontrolle und statistischen Analyse. Das Tool bietet eine zuverlässige, genaue und kostengünstige Lösung für die Masken- und Waferinspektion. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Defekten zu identifizieren, einschließlich Kratzer, Vertiefungen, Partikel und Flecken. Es wurde auch entwickelt, um Fehlalarme zu reduzieren und die Rückverfolgbarkeit zu erleichtern. C FORS 156 ist eine fortschrittliche Inspektionsanlage, die höchsten Qualitäts- und Leistungsstandards entspricht. Es bietet eine perfekte Balance zwischen Genauigkeit und Wirtschaftlichkeit und ist damit ein ideales Modell für die Qualitätssicherung von Halbleiterbauelementen.