Gebraucht SEMILAB / SDI FAaSt 210E-SPV #9203133 zu verkaufen

SEMILAB/SDI FAaSt 210E-SPV ist eine mittelschwere Masken- und Wafer-Ausrichtungsmikroskop-Ausrüstung zur Untersuchung von Defekten, Erosion und Oberflächenintegrität in Halbleiterscheiben und Masken. Dieses System verfügt über eine integrierte automatisierte Gerätesteuerung (SC) mit benutzerfreundlicher intuitiver grafischer Benutzeroberfläche (GUI). Mit einer Baugröße von nur 800 mm x 680 mm x 640 mm ist diese Prüfmaschine kompakt und dennoch sehr vielseitig einsetzbar. SDI FAaSt 210E-SPV bietet eine Vielzahl von Funktionen, um Betreiber in der Halbleiterindustrie zu befähigen. Dieses Tool verfügt über eine 10-Position XYZ-Stufe, die in der Lage ist, mehrschichtige Inspektion, automatische und manuelle Bühnenausrichtung, Neigung und Taumeleinstellung und erweiterte Autofokus-Funktionen. Es bietet auch eine Hellfeld/Dunkelfeld-Bildanzeige mit Direct-on-Wafer-Betrieb, einen 6-Positionskondensator mit 0.3-2.5X Vergrößerungsbereich und einen bis zu 25X Arbeitsabstand. SEMILAB FAaSt 210E-SPV bietet auch Bildaufnahme- und Analysefunktionen auf verschiedenen Ebenen. Mit eingebauter Bildkorrektur können Fehlstellungen erkannt und genau identifiziert werden. Es enthält auch eine fortschrittliche algorithmusbasierte Feature-Identifikation und Maskierung für fehlerfreie Inspektion, Kantenerkennung und Partikelzählung und Größenanalyse. Darüber hinaus können eine Vielzahl von Messungen durchgeführt werden, einschließlich Linienbreite, Kantenprofil und Überlagerungsgenauigkeit. FAaSt 210E-SPV ist mit einer hochauflösenden CCD-Kamera, einer einstellbaren Belichtungszeit und einem leistungsstarken PC-basierten Bildanalysemodell ausgestattet, um eine noch größere Bandbreite an Fehlererkennung und -analyse zu generieren. Dieses Gerät enthält auch eine Reihe von Bildberichtsfunktionen, um Ergebnisse auszuwerten und den Pass/Fail-Status sofort anzuzeigen. Insgesamt ist SEMILAB/SDI FAaSt 210E-SPV ein zuverlässiges Masken- und Wafer-Inspektionssystem auf mittlerer Ebene, das auch kleinste Mängel zuverlässig erkennen und messen kann. Es bietet eine ganze Reihe von erweiterten Funktionen, um sicherzustellen, dass Benutzer in der Lage sind, die besten Ergebnisse aus ihrem Inspektionsprozess zu erhalten.