Gebraucht SEMILAB / SDI FAaSt 230 #9355343 zu verkaufen

SEMILAB / SDI FAaSt 230
ID: 9355343
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2001
Metrology tool, 8" 2001 vintage.
SEMILAB/SDI FAaSt 230 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die entwickelt wurde, um Fehler auf Testwafern, Masken und anderen Halbleitersubstraten schnell und genau zu erkennen. Das System ist in der Lage, Partikelverunreinigungen, Defekte an Kontaktpads, offene oder Kurzschlüsse, Wind-, Ätz-, Korrosions- und Druckfehler auf Substraten zu erkennen. Es ist eine vollautomatische Einheit mit intuitiver benutzerfreundlicher Software für schnelles Setup, Diagnose und Reporting. Die Maschine ist mit einem PLM-Werkzeug (Polarized Light Microscopy) ausgestattet, das eine qualitativ hochwertige Abbildung von Halbleiterstrukturen ermöglicht. Ein integrierter optischer Inspektionskopf mit DLP- und rückbeleuchteter Optik ermöglicht es dem Asset, Bilder von Strukturen zur Fehlererkennung, -identifikation und -analyse zu erfassen. Die eingebauten Technologien und Algorithmen wie automatisierte Fehlererkennung und Echtzeit-Bildverarbeitung ermöglichen eine effiziente und zuverlässige Analyse komplexer Halbleiterstrukturen. Neben seinen bildgebenden Fähigkeiten verfügt das Modell auch über eine umfassende Palette von Messungen und Funktionen, darunter Messungen kritischer Dimensionen (CD), Fehleranalysen über Tintenstrahl- und Markerablagerungen sowie Oxidfilmanalysen. Eine dedizierte XY-Stufe ermöglicht eine präzise Bewegung und Positionierung an Proben für eine bessere Analyse. Darüber hinaus verfügt es über mehrere digitale Schnittstellen wie USB, LAN und DPI, die die Integration mit Peripheriegeräten und externen Softwareanwendungen erleichtern. Das Gerät bietet mit seiner fortschrittlichen Laser-Fokus-Technologie höchste Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Kombiniert mit seinem halbautomatischen automatischen Folienwechsel ermöglicht es eine schnelle Datenerfassung und -analyse und verarbeitet bis zu 500 Wafer pro Stunde. Mit einer tiefgreifenden Analysedatenbank und Trace-Dateien können Kunden schnell ihre Datensätze durchsuchen und mögliche Schwierigkeiten auf der Produktionslinie ermitteln. Darüber hinaus ist das System von Organisationen wie SEMATECH, IEST-RP-CC002.3, ISO/IEC 24324 und STMicroelectronics zertifiziert, was es zu einem idealen Werkzeug für die Qualitätssicherung und die Analyse von Produktionslinien macht. Sein ergonomisches Design ermöglicht die bequeme Einbindung verschiedener Teile der Einheit in die Analyse- und Produktionsindustrie. SDI FAaSt 230 ist eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsmaschine, die seinen Anwendern zuverlässige Hochleistungsergebnisse liefern kann.
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