Gebraucht SEMILAB / SDI FAaSt 300-SPV #173920 zu verkaufen
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ID: 173920
Wafergröße: 8"-12"
Weinlese: 1997
Surface photo voltage tester, 8"-12"
Contact and non-contact surface photo voltage test capability
Open cassette handling
EQUIPE TECHNOLOGIES ATM-105 Wafer handling robot
EQUIPE TECHNOLOGIES ESC-212 Robot controller
EQUIPE TECHNOLOGIES PRE -3019 Wafer pre-aligner
(2) NEWPORT RESEARCH MM3000 Motion controllers
Light activation module:
Designed for 200mm & 300mm wafers
SDI Control Fe activation controller
Dual halogen lamp housings
Wafer analysis module:
EG&G PAR 7260 DSP Lock-In amplifier
SDI LPS-12 Power supply
SDI Opto coupler
Reference light module:
Halogen lamp housing
EG&G PAR 197 Light chopper
Filter wheel assembly
(8) Filters
Fiber optic light delivery
Wafer analysis chuck:
Anodized aluminum wafer chuck, 8"
Designed for 200mm & 300mm wafers
Calibration chip fixture
HEWLETT PACKARD Vectra XA computer:
3.5” Floppy disc drive / CD-ROM Drive
SYQUEST ezflyer 230GB Backup tape drive
Color LCD monitor, 15”
Ghost HDD included
1997 vintage.
SEMILAB/SDI FAaSt 300-SPV ist eine branchenführende Masken- und Waferinspektionsanlage. Dieses System bietet hochauflösende Bildgebung, schnellen Durchsatz und umfassende Bildlogik. Als fortschrittliches Gerät kombiniert es die fortschrittlichen Funktionen einer Standard-Masken- und Wafer-Inspektionsmaschine mit der Flexibilität einer vollständig konfigurierbaren Plattform. Das primäre Werkzeug besteht aus zwei Hauptkomponenten: einer Maskeninspektionskammer und einer Waferinspektionszelle. Die Maskeninspektionskammer ist in der Lage, eine breite Palette von Masken zu unterstützen und bietet Vollfeld-hochauflösende Bilder von bis zu 146 Millionen Datensätzen pro Sekunde. Es verfügt über einen ultrarauscharmen digitalen Signalprozessor (DSP), der eine gleichzeitige Abbildung, Bewertung und Analyse von bis zu vierundzwanzig Masken in einem Stapel ermöglicht. Die Wafer-Inspektionszelle bietet einen umfassenden Satz von Inspektionsfunktionen, einschließlich hochauflösender Bildgebung von bis zu 24 Millionen Pixel pro Sekunde und fortschrittlicher Bildlogik zur automatisierten Fehlerklassifizierung. SDI FAaSt 300-SPV bietet auch eine Vielzahl von Prozessor- und Datenmanagementlösungen. Es unterstützt flexible Logikfunktionen und Datenerfassung, die es Anwendern ermöglichen, das Asset an ihre spezifischen Inspektionsbedürfnisse anzupassen. Es ermöglicht auch die Integration zusätzlicher Inspektionssysteme oder Komponenten. Mit seiner vollständig konfigurierbaren Plattform und dem schnellen Bilddurchsatz kann das Modell so konfiguriert werden, dass es die anspruchsvollsten Fehleranalyseanwendungen effizient angeht. Neben der Bildgebung und Datenerfassung ist SEMILAB FAaSt 300-SPV auch mit fortschrittlichen Tools zur automatisierten Fehlercharakterisierung und -analyse ausgestattet. Dazu gehören Fehlerisolierung, Mikroskopanalyse, automatisierte Testanalyse, Fehlersimulation und optoelektronische Layoutansicht. Auf diese Weise können Anwender Fehler schnell erkennen und beheben, um kostspielige Ausfallzeiten aufgrund teurer Ausfälle zu vermeiden. FAaSt 300-SPV ist eine branchenführende Lösung für die Masken- und Waferinspektion. Mit seiner Kombination aus fortschrittlicher Bildgebung, schnellem Bilddurchsatz und umfassender Bildlogik bietet das Gerät unübertroffene Flexibilität und Leistung für anspruchsvolle Anwendungen zur Fehleranalyse. Die konfigurierbare Plattform und leistungsstarke Datenverwaltungslösungen sorgen dafür, dass Benutzer ihre anspruchsvollsten Anforderungen an die Fehleranalyse mit Vertrauen erfüllen können.
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