Gebraucht SEMILAB / SDI FAaSt 300 #9254549 zu verkaufen

ID: 9254549
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2006
System, 12" 2006 vintage.
SEMILAB/SDI FAaSt 300 ist eine umfassende und hochgenaue Lösung für umfassende Inspektionen von Masken- und Wafermaterialien. Dieses System bietet unübertroffene Genauigkeit und schnelle Taktzeiten und ist damit eines der zuverlässigsten und zuverlässigsten Inspektionssysteme auf dem Markt. SDI FAaSt 300 verfügt sowohl über Hardware- als auch Softwarekomponenten, um höchste Leistung zu gewährleisten. Das Gerät ist mit einer Multi-Megapixel-Kamera und einer großen Optikmaschine ausgestattet, die überlegene Bilddetails und Kontraste bietet. Eine erweiterte parallele Verarbeitungsarchitektur ist ebenfalls enthalten, die dazu beiträgt, Inspektionszyklen zu beschleunigen und gleichzeitig höchste Genauigkeit zu gewährleisten. Die Benutzeroberfläche des Tools ist hoch fortgeschritten und intuitiv, so dass der Bediener die Prüfzyklen einfach konfigurieren und konfigurieren kann, um jede Prozessanforderung zu erfüllen. Während des Inspektionsbetriebs hält ein Stufenelement den Wafer während der Inspektion sicher fest. Hochpräzise Piezo-Aktuatoren kippen und bewegen den Wafer in Echtzeit, um das Vollansichtsfeld zu inspizieren. Zu den Softwarekomponenten des Assets gehört eine eingebaute Wafer-Datenbank, die es ermöglicht, Wafer- und Maskenbibliotheken dauerhaft zu speichern und für eine schnelle Einrichtung und wiederholbaren Betrieb zurückzurufen. Am Ende des Inspektionszyklus können Bilder der geprüften Materialien gespeichert werden, um erweiterte Berichte abzurufen und auszugeben. SEMILAB FAaSt 300 beinhaltet integrierte modernste Algorithmen zur automatisierten Fehlerinspektion. Kurzum, das Masken- und Waferinspektionsmodell FAaSt 300 ist eine fortschrittliche und äußerst zuverlässige Lösung für die automatisierte und detaillierte Inspektion von Wafer- und Maskenmaterialien. Seine Komponenten bieten überlegene Genauigkeit und schnelle Zykluszeiten, während seine Benutzeroberfläche eine einfache Konfiguration und Durchführung wiederholbarer Inspektionen ermöglicht. Die erweiterten automatisierten Fehlererkennungsfunktionen des Geräts erhöhen die Prozesssicherheit, während die integrierten Softwarekomponenten und Waferbibliotheken Komfort und Flexibilität bieten.
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