Gebraucht SEMILAB / SDI FAaSt 330 #33072 zu verkaufen

ID: 33072
Wafergröße: 8"-12"
Weinlese: 1999
Wafer characterization system, 8"-12" Open cassette handling, 8"-12" Anodized aluminum hot chuck, 12" Gold plated measurement chuck, 12" (2) NEWPORT RESEARCH MM3000 Motion controllers Temperature control box Corona switch box I/O Control box Optocoupler BNC Switch box Vacuum / Pneumatic control box WAVETEK 29 DDS Function generator, 10 MHz (2) BERTRAN 2341-1 High voltage power supplies HEWLETT PACKARD Vectra VE6 / 450 Computer Floppy Disc Drive (FDD), 3.5" 100 GB Jazz drive MITSUBISHI LXA550W LCD Monitor OMEGA HX92 Humidity sensor / Transmitter Plasma damage monitor Robot, prealigner and controller removed Power supply: 12 / 24 V 1999 vintage.
SEMILAB/SDI FAaSt 330 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die für die schnelle und hochgenaue Messung von Leiterplattenbildern entwickelt wurde. Dieses System verwendet ein optisches Mikroskop, um Informationen über Größe, Form und Fläche jeder gedruckten Schicht bereitzustellen. Die Einheit bietet auch Sichtbarkeit und Abbildung von Verdrahtungsmustern und Lötmaske. SDI FAaSt 330 verwendet eine Laserkamera-Bildverarbeitungsmaschine, um Bilder mit einer Auflösung von bis zu 0,12 µm (Mikrometer) aufzunehmen. Es kann bis zu 6m2 Material in einem einzigen Scan messen, was bedeutet, dass es schnell hochwertige Drucke auswerten kann. Die Kamera ist mit einem Computerwerkzeug verbunden, das eine leistungsstarke Nachbearbeitung der Bilder ermöglicht. Die Software bietet eine breite Palette von Datenanalysefunktionen, einschließlich der Möglichkeit, Shorts, Füllungen und Überbrückungen zu erkennen sowie Linienbreite und -abstand zu messen. SEMILAB FAaSt 330 verwendet auch einen Kantenerkennungsalgorithmus, um scharfe Kanten und Kurven zu erkennen. Es bietet eine Kantenerkennungsgenauigkeit von 0,24 µm und kann zur Messung von 1 bis 60 Musterschichten verwendet werden. Die Kombination aus bildgebendem Asset und Kantenerkennungsalgorithmus ermöglicht eine verbesserte Überprüfung von Verdrahtungsmustern und Lötmaske. Darüber hinaus liefert FAaSt 330 verschiedene detaillierte statistische Informationen über die inspizierten Daten. Dazu gehören die Gesamtzahl der Defekte, die Anzahl der Defekte pro Fläche und die durchschnittliche Fehlergröße. Dies hilft Ihnen, Problemelemente schnell und detailliert zu identifizieren. Schließlich verfügt SEMILAB/SDI FAaSt 330 über eine robuste Benutzeroberfläche, die eine einfache Möglichkeit bietet, die Daten schnell zu bedienen und zu interpretieren. Das Modell wurde für Ingenieure und Techniker entwickelt. Es bietet auch eine automatisierte Peak-Analyse und Warnfunktion, die den Benutzer benachrichtigt, wenn physische Fehler erkannt werden. All diese Eigenschaften machen SDI FAaSt 330 zu einer leistungsstarken Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung.
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