Gebraucht SEMILAB / SDI FAaSt 330 #9133013 zu verkaufen

SEMILAB/SDI FAaSt 330 ist eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für den Einsatz in Halbleiterherstellungsanlagen. Das System besteht aus einer modularen Wafer-Inspektionseinheit und einer leistungsstarken chromatischen Mikroskopystage. Zusammen ermöglichen diese Komponenten eine genaue Inspektion von Halbleitermasken und Wafern für eine Vielzahl von Anwendungen in Produktionsabläufen. Die modulare SDI FAaSt 330 Einheit ist auf maximale Produktivität bei geringem Technikeingriff ausgelegt. Die Maschine verfügt über automatisierte Be-, Mess- und Entladevorgänge, die den Betrieb bei hohen Durchsätzen ermöglichen. Der modulare Aufbau ermöglicht auch flexible Konfigurationen - das Werkzeug kann an die Anforderungen des Anwenders und die Produktionsumgebung angepasst werden. Die leistungsstarke chromatische Mikroskopie ermöglicht eine schnelle und genaue Inspektion der Masken- und Waferoberflächen. Das Mikroskop ist mit einem großen Sichtfeld und einer hohen Vergrößerung von bis zu 18,000X ausgestattet. Dies ermöglicht eine schnelle und genaue Inspektion von Spankanten und Komponenten, was eine schnelle Fehlererkennung ermöglicht. Das Modell SEMILAB FAaSt 330 ist in einem robusten und zuverlässigen Gehäuse untergebracht, das Umweltfeuchtigkeit und Staub widerstandsfähig macht. Das Gerät verfügt auch über fortschrittliche Software- und Hardwarekomponenten, darunter einen spezialisierten Fehleranalysealgorithmus, integrierte Bildmess- und Bildanalyseeinheiten und ein Fehlererkennungssystem. Die intuitive Benutzeroberfläche erleichtert das Einrichten, Konfigurieren und Verwenden des Geräts. FAaSt 330 Maschine ist so konzipiert, dass sie einfach in Halbleiterproduktionsanlagen bereitgestellt, konfiguriert und verwaltet werden kann. Das Tool bietet eine schnelle und genaue Inspektionsleistung, die eine frühzeitige Fehlererkennung und verbesserte Produktionserträge ermöglicht. Die Anlage kann auch an individuelle Anwenderanforderungen und Produktionsumgebungen angepasst werden, was sie zu einer flexiblen und zuverlässigen Lösung für Masken- und Waferinspektionsanforderungen macht.