Gebraucht SEMILAB / SDI FAaSt 350 #9236891 zu verkaufen

SEMILAB / SDI FAaSt 350
ID: 9236891
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2006
Wafer characterization system, 12" 2006 vintage.
SEMILAB/SDI FAaSt 350 ist ein Spezialinstrument zur Inspektion von Masken und Wafern in der Halbleiterindustrie. Das Gerät besteht aus einem fortgeschrittenen optischen Mikroskop, das mit einem Rahmengräber, einer digitalen oder analogen Kamera, einer Bildverarbeitungssoftware und einem Mustererkennungsmodul konfiguriert ist. Es ist ideal für kleinere bildgebende Anwendungen, wie Wafer, Schaltungsmuster oder Retikel. Das System ist darauf ausgelegt, auch kleinste Unregelmäßigkeiten zu erkennen, so dass Probleme innerhalb des Halbleiterbauelements frühzeitig erkannt werden können, die sonst zu klein wären, um bemerkt zu werden. Es kann jeden Bereich des Wafers oder Elements untersuchen, um seine Gleichmäßigkeit zu gewährleisten. SDI FAaSt 350 ist mit einer Vollfeld-Beleuchtungseinheit und Object-Centred Microscopy (OCM) ausgestattet. Diese Beleuchtungsmaschine erzeugt ein sehr helles, gleichmäßiges Licht, das durch Fokussierung des Lichts auf verschiedene zu untersuchende Teile auf die Probe gerichtet und aufgedeckt wird. Dadurch kann das Werkzeug die Vorteile von Submikron-Funktionen nutzen, die mit traditionellen Mitteln schwer zu erkennen sind. Mit der Verwendung eines 3D-Bildverarbeitungsmaterials kann das Modell Funktionen mit unglaublicher Präzision erkennen und messen. Es verwendet eine geometrische Analysemethode, um eine dreidimensionale Ansicht der Maske oder des Wafers zu ermöglichen, wodurch mehrere KE-Bemaßungen in einer einzigen Operation überwacht werden können. Diese Flexibilität macht SEMILAB FAaSt 350 zu einem sehr vielseitigen Instrument und kann für verschiedene Inspektionsaufgaben von der einfachen Fehleranalyse bis hin zu komplexen Profilmessungen in einem einzigen Datensatz eingesetzt werden. Das Gerät ist komfortabel mit vollem Touchscreen gesteuert Bedienung konfiguriert, so dass Bediener effizient und präzise arbeiten. Es verfügt auch über eine Vielzahl von erweiterten Beleuchtungsoptionen wie Planar, Point Guard, Line Guard, Kontrastanalyse, Multi-Channel Kontraste, Messaging und Hochgeschwindigkeitsbetrieb. Es kann einfach programmiert werden, um Bilder und Ergebnisse genau und schnell zu erfassen. Insgesamt ist FAaSt 350 ein fortschrittliches Masken- und Waferinspektionssystem, das hochauflösende Analysen, objektbasierte Betrachtung und schnelle, genaue Ergebnisse bietet. Es kann auf verschiedene Inspektionsaufgaben und Umgebungen zugeschnitten werden und ist eine zuverlässige, effiziente Einheit zur Gewährleistung der höchsten Qualitätskontrolle in der Halbleiterproduktion.
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