Gebraucht SEMILAB / SDI FAaSt 350 #9268262 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

ID: 9268262
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2008
Surface photo voltage tester, 12".
SEMILAB/SDI FAaSt 350 Masken- und Waferinspektionsgeräte sind für die automatisierte Oberflächenfehlerinspektion von hergestellten Masken und Wafern bei der Herstellung integrierter Halbleiterschaltungen konzipiert. Dieses automatisierte System bietet eine schnelle und zuverlässige Erkennung und Bewertung von Oberflächenfehlern auf einer Vielzahl von Substraten, einschließlich Wafern, Masken, Leiterrahmen, elektronischen Komponenten und anderen flachen Substraten. Das Gerät umfasst die umfassende SDI FAaSt 350 Optical Station, die mit hochwertiger Leica-Optik für höchste Präzisionsbildgebung und Fehlererkennung ausgestattet ist. Mit seiner hochauflösenden Bildgebungsfähigkeit kann es Defekte ab 4 μ m erkennen, während seine patentierte Low-FG-Beleuchtungsmaschine für ein fehlerfreies Hintergrundbild sorgt. Dieses Tool bietet auch hervorragenden Bildkontrast und Sichtbarkeit für einfachere Fehlererkennung und Klassifizierung. SEMILAB FAaSt 350 ist äußerst benutzerfreundlich konzipiert, mit einer einfachen und intuitiven grafischen Benutzeroberfläche (GUI), die eine schnelle und einfache Inspektion von Proben ermöglicht. Verschiedene Einstellungen können auf dem Asset programmiert und gespeichert werden, so dass der Bediener die Maschine schnell anpassen kann, wenn das zu untersuchende Muster ein anderes Prüfprotokoll erfordert. Neben dem bildgebenden Modell bietet FAaSt 350 auch adaptive Unterauflösungs-Inspektionsalgorithmen, die die Erkennung und Klassifizierung von Fehlern in Echtzeit ermöglichen. Diese Algorithmen analysieren die Bilder, um Fehler in der Probe genau zu identifizieren. Darüber hinaus bieten die automatisierten Fokus- und Kontrastoptimierungstechnologien der Maschine eine genaue Bildaufnahme, um eine genaue Fehlerlokalisierung sicherzustellen. Die Ausrüstung SEMILAB/SDI FAaSt 350 ist auch für den Hochdurchsatzbetrieb konzipiert, mit automatisierten Probenhandhabungsfunktionen, die eine Inspektion von bis zu 30 Wafern pro Stunde ermöglichen. Sein automatisiertes Wafer-Ausrichtungsmodul bietet problemlos Platz für eine Vielzahl von Wafergrößen und -dicken und ermöglicht eine schnelle und einfache Wafer-Ausrichtung. Einmal ausgerichtet, ist das System in der Lage, detaillierte quantitative Ergebnisse zu generieren, so dass mehr Vertrauen in die Fehlererkennung. Abschließend ist SDI FAaSt 350 Mask and Wafer Inspection Unit eine fortschrittliche automatisierte Maschine, die speziell für die Inspektion von Masken und Wafern bei der Herstellung integrierter Halbleiterschaltungen entwickelt wurde. Seine hochauflösende Bildgebungsfähigkeit, intuitive GUI und fortschrittliche Bildgebungsalgorithmen bieten eine hochgenaue und zuverlässige Fehlererkennung, während seine Durchsatzfähigkeit und automatisierte Probenhandhabung es zu einer idealen Wahl für die Hochgeschwindigkeitsprüfung von hergestellten Proben machen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor