Gebraucht SEMILAB / SDI RT-100 #9202582 zu verkaufen
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SEMILAB/SDI RT 100 ist eine robuste Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die für Anwendungen mit hohem Durchsatz, automatisierten Produktionslinien entwickelt wurde. Es bietet Kunden eine präzise, hochauflösende Abbildung von Masken- und Waferdefekten und Forminformationen. SDI RT 100 nutzt die SDI proprietäre Scanning Electron Beam Detection (SEBD) Technologie zum Nachweis von Fehlern und Partikeln. Es ermöglicht Benutzern, verschiedene Halbleiterbauelemente zu überprüfen, einschließlich, aber nicht beschränkt auf DRAMs, SRAMs, CMOS, Bi-CMOS, SOI und Gallium Arsenide (GaAs) Technologien. Das System nutzt eine zweiachsige X-Y-Stufe zur Erkennung und Analyse von Masken- und Waferdefekten sowie eine segmentierte Waferstufe, um eine eingehende Analyse von Formen und Merkmalen zu ermöglichen. Seine hohe Wiederholbarkeit gewährleistet wiederholbare Ergebnisse bei der Datenerfassung, so dass der Benutzer kleine Fehler zuverlässig erkennen kann. SEMILAB RT 100 verfügt über eine Hochgeschwindigkeits-Röntgenquelle zur genauen Messung der internen Struktur der Geräte, die die Erkennung von Defekten, die Messung der Integrität der Schaltung und die Qualitätssicherung für den Herstellungsprozess ermöglicht. Das Gerät verfügt auch über SEMILAB proprietären Multi-Nähalgorithmus für das automatische Nähen mehrerer Bilder für maximale Auflösung und Genauigkeit. Sein Tracking- und Korrelationsalgorithmus erkennt und verfolgt Funktionen von einem Bild zum anderen, sodass der Benutzer Fehler detaillierter anzeigen kann. Darüber hinaus ermöglichen die fortschrittlichen Datenerfassungstechniken von RT 100 die schnelle Erkennung und Extraktion von Defekten, Formprofilen und anderen Funktionen. Seine automatisierten Fehlerklassifizierungsalgorithmen bieten schnelle Auswertungen von Fehlern, einschließlich der automatischen Sortierung von Waferdefekten nach ihrem Typ. Zusammenfassend ist SEMILAB/SDI RT 100 eine vielseitige und zuverlässige Bildverarbeitungsmaschine, die Kunden hochauflösende Bilder von Masken und Wafern zur Verfügung stellt. Es ist mit leistungsstarken Technologien für Hochdurchsatzinspektion und automatisierte Datenanalyse ausgestattet. Mit seinen erweiterten Erkennungsfunktionen können Anwender das Produkt von höchster Qualität während der Produktionsprozesse gewährleisten.
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