Gebraucht SEMILAB / SDI RT-110 #9277269 zu verkaufen

SEMILAB/SDI RT 110 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage zur Untersuchung der physikalischen, elektrischen und optischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und -materialien. Es bietet eine umfassende Lösung zur Überwachung und Messung der Qualität von Komponenten und Substraten der integrierten Schaltung (IC). Dieses System bietet eine Vielzahl von Funktionen, wie ein hochauflösendes Bildgebungsmikroskop, kontaktlose Profilometrie, Weißlicht-Interferometrie, Weißlicht-Laserinterferometrie und Phasenbildgebung. Es verfügt auch über eine umfassende Suite von Softwarefunktionen, mit denen Benutzer Bilder mit hoher Geschwindigkeit und Präzision analysieren und inspizieren können. Die Mikroskope sind mit einer Vielzahl von Linsen ausgestattet, die eine genaue Fehlererkennung und Analyse von Masken, Wafern und diskreten Geräten ermöglichen. Es hat eine Integrationsauflösung von 0,5 Nanometern, was es effektiv macht, die Eigenschaften und Parameter von Halbleiterbauelementen, Materialien und anderen Objekten genau zu messen. Darüber hinaus umfasst dieses Gerät eine Qualitätskontrollmaschine zur Überprüfung von Wafereigenschaften und Fehlern, um Ausfälle und Auffälligkeiten zu erkennen. Es unterstützt auch die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), um die Mikrostruktur von Proben zu untersuchen. Darüber hinaus ist sein Beleuchtungswerkzeug so konzipiert, dass hohe Kontrastbilder für zuverlässige und präzise Analysen gewährleistet sind. Es hat auch einen breiten Frequenzbereich mit Wellenlängenbereich von 400-700nm und maximaler Signalfrequenz von 12MHz, so dass es für die Abbildung sehr kleiner Merkmale auf einer Waferoberfläche geeignet ist. Das Asset bietet die Möglichkeit, 3D-Bilder aus zweidimensionalen Scans zu erzeugen und ermöglicht eine schnelle und effiziente Fehlersuche für Wafer und Masken. Es kann je nach den Anforderungen des Benutzers weiter angepasst werden. Abschließend ist SDI RT 110 ein leistungsstarkes und hocheffizientes Masken- und Wafer-Inspektionsmodell, das eine große Genauigkeit bei der Messung der Eigenschaften und Parameter von Halbleiterbauelementen und -materialien bietet. Es umfasst eine umfassende Suite von Software und komplette Beleuchtungsausrüstung, bietet Flexibilität, um es für verschiedene Anwendungen anpassen.