Gebraucht SEMILAB / SDI WT-2000 #293763241 zu verkaufen

SEMILAB/SDI WT-2000 ist eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die eine schnelle, zuverlässige und genaue Analyse von Waferdefekten ermöglicht. Das System unterstützt standardmäßige planare Defekte (z.B. Versetzungen und Gruben) sowie 3D-Punktfehler (z.B. isolierte Standorte). Das Gerät ist mit robusten optoelektronischen Modulen ausgestattet, mit fortschrittlicher 256-Kanal-Beleuchtung, automatischer Fokus- und Belichtungsoptimierung, einem mehrkanaligen Farbfilterrad und intelligenten Pixel-Interpolationsalgorithmen. In Kombination mit einer hochauflösenden CCD-Kamera können SDI- WT-2000 hochauflösende Bilder mit hervorragenden Details aufnehmen. Die benutzerfreundliche Software der Maschine bietet eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, mit der Benutzer Masken- und Waferinspektionen schnell einrichten, ausführen und analysieren können. Zu den Funktionen gehören Echtzeit-Fehlererkennung und -Klassifizierung sowie detaillierte statistische Zusammenfassungs- und Fehlerverteilungsanalyseberichte. Die Software ermöglicht es Anwendern, die Produktivität und Effizienz durch Automatisierung des Inspektionsprozesses durch vorlagenbasierte Inspektion zu erhöhen. Es bietet auch leistungsstarke grafische Tools und anpassbare Regeln und Einstellungen, so dass Benutzer das Tool an ihre Bedürfnisse anpassen können. SEMILAB WT-2000 ist ein modulares Asset, das es Anwendern ermöglicht, Module je nach Anwendung und Testanforderungen hinzuzufügen. Dazu gehören Softwaremodule wie SIPI (Stereo Imaging Processing Inspection) oder Augmented Reality (AR), die den Anwender in die Lage versetzen, mit den live gescannten 3D-Bildern zu interagieren. Es gibt auch ein optionales Automatisierungspaket, das das automatisierte Laden, Probenahme und Sortieren von geprüften Proben sowie eine erweiterte Fehleranalyse und Fehlerüberprüfung mit automatisiertem Export detaillierter Berichte ermöglicht. WT-2000 bietet eine hochmoderne Lösung für Anwendungen wie dielektrische, optische, optoelektronische oder Transistor Wafer Inspektion, Lithographie Defekt Inspektion, Galliumnitrid (GaN) LED Chip Inspektion, Memory Wafer Inspektion und vieles mehr. Es bietet beispiellose Bildqualität, verfügt über standardmäßige visuelle und erweiterte optische Inspektion und automatisiert viele Prozesse, was zu einer erhöhten Inspektionseffizienz und Genauigkeit führt.