Gebraucht SEMILAB / SDI WT-2000 #293804524 zu verkaufen

SEMILAB/SDI WT-2000 ist ein hochmodernes Masken- und Wafer-Inspektionssystem, das es Anwendern ermöglicht, Muster auf Masken und Wafern präzise und zuverlässig zu überprüfen. Diese Maschine ist führend in ihrem Bereich und verfügt über eine Vielzahl verschiedener Funktionen, mit denen Benutzer ihre kritische Geräteleistung überwachen und verfolgen können. SDI WT-2000 nutzt eine Kombination aus Lichtfeld-Kanal-Bildgebung und Laser-Scan-Technologien, die Benutzer mit sehr detaillierten Bildern ihrer Masken und Wafer bieten können. Dieses Bildgebungssystem ist mit einem optischen Sensor mit hoher Empfindlichkeit, einer leistungsstarken adaptiven Schwellenoptimierung und automatischen Beispielverfolgungsfunktionen gekoppelt, mit denen Benutzer Fehler genau finden und überprüfen können. Darüber hinaus verfügt SEMILAB WT-2000 auch über effiziente bildgebende Algorithmen wie Wavelet-Transformation, die es Anwendern ermöglicht, auch kleinste Details in ihren Bildern zu identifizieren. In Bezug auf die Leistung bietet WT-2000 ausgezeichnete Flexibilität von der Erkennung von Kanten auf Mikroniveau bis zur Erkennung von Merkmalen auf 10nm-Ebene. Zusätzlich kann diese Maschine bis zu fünf Proben gleichzeitig prüfen, sowohl in poliertem als auch in unpoliertem Zustand. Darüber hinaus unterstützt es auch eine Vielzahl von Probengrößen von 150nm bis 3mm Durchmesser sowie verschiedene Masken- und Wafermaterialien. SEMILAB/SDI WT-2000 ist zudem mit einem integrierten Touchscreen-Panel ausgestattet, mit dem Anwender die Maschineneinstellungen einfach und bequem steuern und konfigurieren können. Darüber hinaus verfügt diese Maschine über ein automatisches Kalibriersystem, das die Genauigkeit und Wiederholbarkeit der durchgeführten Messungen sowie eine zuverlässige Probenabbildung gewährleistet. Schließlich umfasst SDI WT-2000 auch eine ausgeklügelte Software, mit der die von der Maschine gesammelten Daten überwacht und die Leistung in Echtzeit analysiert werden können. Anhand dieser Daten können die Prozessleistung ausgewertet, Beispielparameter verglichen und Verbesserungspotenziale identifiziert werden.