Gebraucht SEMILAB / SDI WT-2000 #9259516 zu verkaufen

SEMILAB / SDI WT-2000
ID: 9259516
Weinlese: 2008
Measurement system 2008 vintage.
SEMILAB/SDI WT-2000 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die mit dem Ziel gebaut wurde, Inspektionsmöglichkeiten für Lithographie- und Messtechnik-Anwendungen bereitzustellen. Es ist für die Inspektion, Probenahme und Messung von Wafern und Masken mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit konzipiert. Dieses System verfügt über eine Dual-Head-optische Einheit, eine proprietäre Steuerungsmaschine und eine fortschrittliche proprietäre Bildanalysesoftware. Das Masken- und Wafer-Inspektionswerkzeug ist mit einer 1k x 1k CCD-Kamera und einer Dual-Head-Beleuchtungssteuerung ausgestattet, die eine gleichmäßige Beleuchtung der Wafer- und Maskenoberfläche gewährleistet. Die Anlage ist in der Lage, den gesamten Wafer in einem Durchgang mit hoher Präzision zu inspizieren. Zusätzlich arbeitet das Modell im Pulsbeleuchtungszustand, um die geringen Unterschiede in der Oberflächentopographie auszugleichen und so konsistente Ergebnisse für den gesamten Wafer zu erzielen. Die fortschrittliche Bildanalysesoftware ermöglicht die Erkennung von Fehlern, wie kritischen Dimensions- und Belichtungsfehlern, während Variationen in der Waferstruktur erkannt werden. Sie kombiniert die vollständige Waferanalyse mit einer isolierten kritischen Flächenanalyse und sorgt so für eine umfassende Fehlerinspektion. Darüber hinaus ermöglicht die High-End-automatisierte Fehlererkennung das System, subtile und isolierte Wafer-Defekte zu erkennen, die ansonsten schwer zu erkennen sind. Die proprietäre Steuereinheit ermöglicht es dem Bediener, Kamera, Beleuchtung, Bühnenposition und optische Maschine in einer einzigen, einheitlichen Hardware zu steuern. Es ermöglicht auch die Integration mit externen statistischen Prozesssteuerungs- und Datenerfassungssystemen und ermöglicht so die schnelle Analyse von Wafer- und Maskendaten. Darüber hinaus kann das Werkzeug in Wafer-Tracker integriert werden, wodurch eine präzise Verfolgung des Wafers während der Bewegung durch die Maschine gewährleistet ist. Zusammenfassend ist SDI WT-2000 eine komplette, hochpräzise Masken- und Wafer-Inspektion. Es ist für die Inspektion, Probenahme und Messung von Wafern und Masken mit Genauigkeit und Wiederholbarkeit konzipiert, während seine fortschrittliche Bildanalysesoftware und proprietäre Steuerungsmodell nahtlose Integration mit externen statistischen Prozesskontroll- und Datenerfassungssystemen bieten. Darüber hinaus arbeitet das Gerät im Pulsbeleuchtungszustand, um die geringen Unterschiede in der Oberflächentopographie auszugleichen und für konsistente, wiederholbare Ergebnisse für den gesamten Wafer zu sorgen.
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