Gebraucht SEMILAB / SDI WT-2000PVN #293625326 zu verkaufen

SEMILAB/SDI WT-2000PVN ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für die Halbleiterherstellung. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Masken, Fotomasken, Mikrolithographien und Wafern bis zu 200mm zu scannen und zu inspizieren. Das System ist auch sehr zuverlässig und genau, da es sehr kleine Defekte erkennen kann, die für das menschliche Auge typischerweise nicht nachweisbar sind. SDI WT-2000PVN ist mit fortschrittlichen Beleuchtungssystemen und einem Mikroskop mit langer Arbeitsstrecke ausgestattet. Dadurch kann der Bediener die Oberfläche eines Wafers schnell und genau überprüfen, ohne den Wafer bewegen zu müssen. Das Gerät verfügt außerdem über eine automatische Fokus- und Kalibriersteuerung, die eine hochauflösende Bildgebung ermöglicht und die Genauigkeit erheblich verbessert. SEMILAB WT-2000 PVN ist in der Lage, eine Vielzahl von Masken, Fotomasken, Mikrolithographien und Wafern bis zu einer Größe von 200 mm zu scannen und zu inspizieren. Es enthält ein integriertes Lasermodul mit einer Abtastwellenlänge von 633nm, eine hochwertige Optik und eine schnelle Abtastgeschwindigkeit von 5 μ m, um große Bereiche zu überprüfen. Die Maschine ist auch autofokussierbar, so dass die Bildqualität scharf und klar bleibt, auch wenn die Oberfläche des Wafers uneben oder gekrümmt ist. Darüber hinaus ist das Werkzeug mit einem eingebauten qualitativ hochwertigen Inspektionsmodul zur Erkennung mikroskopischer Defekte wie Partikel, Kratzer oder Risse ausgestattet. Dieses Modul kann auch kleinste Defekte auf der Oberfläche eines Wafers erkennen, so dass der Bediener eine eingehende Analyse durchführen und vorbeugende Maßnahmen ergreifen kann. SDI WT-2000 PVN wurde mit einer einfach zu bedienenden Schnittstellensoftware entwickelt, mit der Bediener den Scanvorgang in Echtzeit einfach überwachen können. Die Software bietet auch On-Screen-Anleitung und verschiedene Bildverarbeitungsfunktionen wie Bildmittelung, Bildnaht und Bildmaske, um höchste Genauigkeit bei der Erkennung von Fehlern zu gewährleisten. Insgesamt bietet SEMILAB/SDI WT-2000 PVN eine hohe Genauigkeit, Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit bei der Erkennung und Analyse mikroskopischer Defekte an Maske und Waferoberfläche. Seine fortschrittlichen Optik- und Bildgebungssysteme sorgen jedes Mal für klare und scharfe Bilder, während seine automatisierte Fokus- und Kalibrierungssteuerung es dem Bediener ermöglicht, große Bereiche schnell und genau zu inspizieren. Die benutzerfreundliche Schnittstelle und das eingebaute Inspektionsmodul verbessern die allgemeine Zugänglichkeit und das Betriebserlebnis und machen WT-2000PVN zu einer idealen Wahl für jeden Halbleiterherstellungsprozess.