Gebraucht SEMILAB / SDI WT-2000PVN #293810216 zu verkaufen

SEMILAB/SDI WT-2000PVN Masken- und Wafer-Inspektionsgeräte sind eine optoelektronische Bildgebungsplattform zur automatisierten Inspektion von Masken, Wafern, Retikeln und Overlay-Zielen. Es bietet überlegene optische Leistung, automatisierte Präzisionsausrichtung und automatisierte Hochgeschwindigkeits-Bildanalyse. Das System ist mit einem CCD-Sensor-Array, vier Leuchtstofflampen und einer verstellbaren Bühne mit motorisierter Bewegung ausgestattet. Das bildgebende CCD-Sensor-Array verfügt über eine hohe Pixelauflösung, hervorragende ladungsgekoppelte Geräteleseräusche (CCD), niedrigen Dunkelstrom und einen breiten Dynamikbereich und liefert klare und genaue Ergebnisse. Die fluoreszierenden Lichtquellen bieten zusammen mit der Bühnenbeleuchtung eine Leuchtdichte von bis zu 200.000 Fußlamellen für einen hervorragenden Bildkontrast. Die automatisierte Präzisionsausrichtung sorgt für präzise Bildüberlagerungsergebnisse. SDI WT-2000PVN verfügt über automatisierte Bildanalysefunktionen mit dedizierter Software zur Fehlererkennung, CD-Messung, Diagrammanalyse und anderen bildbasierten Anwendungen. Die Bildanalysefunktionen dienen der Erkennung kleiner Defekte und Variationen, einschließlich rotierender Muster, der Isolierung von Maßmessungen und der Erzeugung von 3D-Oberflächenmessungen. Die Analyse kann im eigenständigen Modus oder mit angepassten Skripten für erweiterte Anwendungen ausgeführt werden. Das Gerät enthält auch eine erweiterte Software-Schnittstelle für effizienten Betrieb, die voreingestellte Kriterien für die automatische Bildanalyse und Fehlererkennung enthält. Die benutzerfreundliche Oberfläche verfügt über eingebettete Kalibrierfunktionen, voreingestellte Analysekriterien, automatisierte Rückverfolgbarkeit sowie leistungsstarke Datenbank- und Berichtsfunktionen für eine umfassende Dokumentation. Für fortgeschrittene Anwendungen können Benutzer Skripte oder andere Kodierungssprachen für individuelle Analysen verwenden. SEMILAB WT-2000 PVN ist für Anwendungen konzipiert, die einen hohen Durchsatz, eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit erfordern, und bietet eine hervorragende Leistung bei einer Vielzahl von bildgebenden Aufgaben. Diese Maschine eignet sich für Fehlerüberprüfung, Konstruktionsregelprüfungen, Retikel- und Overlay-Inspektion sowie Prozesssteuerung in der Halbleiter-, Elektronik- und Medizinindustrie.