Gebraucht SEMILAB / SDI WT-2010D #9267612 zu verkaufen

SEMILAB/SDI WT-2010D mask & wafer inspection equipment ist ein hochpräzises bildgebendes System, das eine vollständige, wiederholbare Bildgebung und Datensammlung von Funktionsgrößen innerhalb integrierter Schaltkreismasken und Wafer ermöglicht. Das Gerät wurde entwickelt, um diese Materialien schnell und einfach auf Anomalien oder Defekte zu überprüfen. SDI WT-2010D besteht aus einer flexiblen X-Y-Scanstufe und einer leistungsstarken optischen Maschine - beide arbeiten zusammen, um eine schnelle und präzise Abbildung von kleinteiligen Funktionen auf Masken- und Waferoberflächen zu ermöglichen. Angetrieben wird die Abtaststufe von einem hocheffizienten X-Y-Mikroscanner, der die Bühne in X- und Y-Richtung in präzisen Schritten bewegen kann. Der motorisierte Antrieb sorgt für eine reibungslose, genaue Bewegung beim Scannen und der Bildaufnahme. SEMILAB WT-2010D Optik-Tool nutzt eine vollständig anpassbare trioptische Ressource. Dieses Modell besteht aus drei separaten hochauflösenden Objektiven - jedes mit seinen eigenen endlichen Anpassungsfunktionen, so dass der Benutzer die Linse für Vergrößerung, Sichtfeld und numerische Blende genau anpassen kann. Die Linsen bieten klare, detaillierte Bilder mit selbst den kleinsten Funktionen, die scharf und knackig erscheinen. WT-2010D Ausrüstung umfasst auch ein fortgeschrittenes Bildgebungssystem. Die 150-Megapixel-CCD-Kamera und -Platine ist in der Lage, bis zu 10.000 Pixel/Sekunde aufzunehmen. Dies ermöglicht es dem Gerät, detaillierte Bilder von kleinteiligen Funktionen in extrem feinen Details zu erfassen. Die von der bildgebenden Maschine gesammelten Daten werden dann über ein automatisiertes Vollschrittmerkmalsprüfwerkzeug verarbeitet. Dieses Asset verarbeitet und analysiert die Bilder auf etwaige Anomalien, Defekte oder Verformungen. Die Ausgabe dieses Modells liefert einen Echtzeit-Snap-Shot des Objekts, das auf einem 21-Zoll-LCD-Flachbildschirm sichtbar ist. Um sicherzustellen, dass die von den Geräten gesammelten Daten konsistent und genau sind, enthält das SEMILAB/SDI WT-2010D System eine komplette Suite leistungsfähiger Software. Diese Software umfasst Bild- und Datenvergleichswerkzeuge, statistische und grafische Werkzeuge, automatische Verarbeitungsfunktionen und Analysedienstprogramme. Alle diese Komponenten ermöglichen es dem Anwender, Fehler oder Abweichungen im Probenmaterial schnell und einfach zu erkennen. Abschließend ist SDI WT-2010D Unit eine einfach zu bedienende, hochgenaue Bildverarbeitungsmaschine, die speziell für eine effektive und effiziente Masken- und Waferinspektion entwickelt wurde. Neben der X-Y-Scanphase, dem trioptischen Optik-Tool, der leistungsstarken bildgebenden Ausstattung und der umfassenden Software-Suite bietet das SEMILAB WT-2010D-Modell ein umfassendes Mittel zur Inspektion und Analyse kleiner Funktionen dieser Materialien.