Gebraucht SEMILAB WT-2000PV #293603834 zu verkaufen

SEMILAB WT-2000PV
ID: 293603834
Measurement system.
SEMILAB WT-2000PV ist ein Masken- und Waferinspektionssystem zur Wafer- und Maskeninspektion in der Halbleiterproduktion. Es verfügt über die Fähigkeit, Fehler bei einer Sub-Nanometer-Auflösung zu erkennen und zu diagnostizieren und bietet eine breite Palette von Fehlermessungen. SEMILAB WT 2000 PV zeichnet sich unter anderem durch seine hohe Auflösung, Präzision und Genauigkeit aus. Es verwendet ein proprietäres Objektivdesign, um ein großes Sichtfeld zu schaffen und gleichzeitig die Bildgebung von höchster Qualität zu erhalten. Die Inline-Optik ist in der Lage, Fotos von sehr kleinen Funktionsgrößen auf Maske sowie Wafern zu erhalten. Das System ist mit einem High-End-Röntgendetektor ausgestattet, der eine hohe Empfindlichkeit bietet und eine hochauflösende Bildgebung ermöglicht. Der Röntgendetektor ermöglicht auch einen großen Messbereich und eine hohe Empfindlichkeit zur Fehlererkennung an Masken und Wafern. WT-2000PV ist mit fortschrittlichen bildgebenden, messenden und analytischen Merkmalen ausgestattet. Zu den bildgebenden Funktionen gehören eine maßgeschneiderte Farbkamera und eine hinterleuchtete Schlittenbildgebung, die eine visuelle Inspektion der Oberflächenmerkmale des Wafers ermöglicht. Zu den Messmerkmalen gehören automatisierte und halbautomatische Nähte und echte Querschnittsbildgebung auf 2,5 nm und darunter. Zu den analytischen Merkmalen gehören die optische 3D-Messung von Waferrauhigkeiten, Musterung und Maskenfehlern. WT 2000 PV verfügt auch über erweiterte Softwarefunktionen, um Beobachtungsmodi frei zu wählen. Auf diese Weise können Benutzer Beobachtungsmodi wie Amplitude, Phase, Leistung und Minimal-/Maximalfokus sowie Parameterbearbeitung zur Verbesserung der Inspektionsergebnisse frei wählen. Zusammenfassend ist SEMILAB WT-2000PV ein Masken- und Wafer-Inspektionssystem, das sehr genau und präzise ist und auch kleinste Fehler erkennen kann. Es ist mit fortschrittlichen bildgebenden, messenden und analytischen Funktionen ausgestattet, die es seinen Benutzern ermöglichen, Beobachtungsmodi frei zu wählen und Parameter für eine optimale Inspektion zu bearbeiten.
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