Gebraucht SEMITEST Epimet II #293646413 zu verkaufen

SEMITEST Epimet II ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage für die Halbleiterindustrie. Es bietet automatisierte Inspektion, Qualitätsprüfung und Messtechnik einer breiten Palette von Wafern und dünnen Folien. Das System wurde entwickelt, um die Genauigkeit und Qualität des Produkts zu optimieren. Das Gerät verwendet fortgeschrittene Rasterelektronenmikroskopie (SEM) -Techniken, um hochauflösende Inspektion und Qualitätskontrolle von Wafern und dünnen Filmen bereitzustellen. Es wurde entwickelt, um Materialien zu inspizieren, die so dünn wie wenige Mikrometer sind. Epimet II ist mit einer Reihe fortschrittlicher Detektoren ausgestattet, einschließlich Backscatter-Detektoren, sekundären Elektronendetektoren und Mikrofokussierungen-Röntgendetektoren, die eine maximale Auflösung ermöglichen. Die Maschine integriert erweiterte Positionierungs- und Muster-Manipulationsmöglichkeiten, so dass der Benutzer die Eigenschaften der Wafer und dünnen Filme genau sehen, messen und inspizieren kann. Die integrierte Stufe ermöglicht eine schnelle und genaue Probenpositionierung und bietet gleichzeitig eine ausreichende Arbeitsbelastbarkeit. SEMITEST Epimet II enthält auch erweiterte digitale Bildverarbeitungsalgorithmen umfangreiche Bildanalysefunktionen. Dies ermöglicht es dem Benutzer, Fehler und Anomalien mithilfe von Echtzeit-, digitalen Erfassungs- und Anzeigefunktionen einfach zu erkennen und zu messen. Das Tool umfasst auch benutzerfreundliche Software-Tools, die eine Überprüfung der gesamten Waferoberfläche ermöglichen und es dem Benutzer ermöglichen, Fehler mit höchster Genauigkeit zu erkennen, zu klassifizieren und zu messen. Das Asset bietet auch Funktionen für Prozesskontrolle, Qualitätstests und messtechnische Aufgaben. Die integrierte Messtechnik ermöglicht es Anwendern, die Waferdicke, die Oberflächentopographie und andere relevante Informationen genau zu messen. Darüber hinaus ist das Modell in der Lage, 3D-Funktionen genau zu messen und kann Bilder von fokussierten Ionenstrahlen erfassen. Darüber hinaus bietet Epimet II eine Vielzahl von Diagnosen und Tests, einschließlich Leckstrom, Maskeninspektion und -analyse, Werkzeuggrößenprüfung, Spannungsmessungen, elektrische Testmuster, Scangeschwindigkeitsmessung und vieles mehr. Diese Tests gewährleisten Produktkonsistenz und Qualität und helfen, den Entwicklungs- und Fertigungsprozess zu vereinfachen. Insgesamt ist SEMITEST Epimet II eine fortschrittliche Wafer- und Dünnschichtinspektionsanlage, die entwickelt wurde, um Genauigkeit, Qualität und Produktivität zu maximieren. Mit seinen fortschrittlichen Detektoren, seinen Positionierungs- und Probenmanipulationsmöglichkeiten, der digitalen Bildverarbeitung und den integrierten messtechnischen Fähigkeiten bietet Epimet II eine leistungsstarke Lösung für die Halbleiterindustrie.