Gebraucht SLD FGN-20 #9201063 zu verkaufen

SLD FGN-20
Hersteller
SLD
Modell
FGN-20
ID: 9201063
Digital force gauge.
SLD FGN-20 ist eine vollautomatische Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die eine überlegene Genauigkeit und Zuverlässigkeit für das Halbleiterfeld bietet. Das System verwendet eine erweiterte optische Bildgebung und Algorithmen, die Fehler im Bereich von 0,1 μ m bis 0,5 μ m erkennen können. Die SLD-Technologie ist in der Lage, Proben verschiedener Typen wie kleine Kontakte, blinde Vias und Low-K-Dielektrika zu inspizieren. FGN-20 verwendet eine hochauflösende CCD-Kamera, die empfindlich genug ist, um minimale Defekte und andere Eigenschaften aus der kombinierten Pseudo-Fokus-Objektivgruppe zu erkennen. Es wird mit leistungsfähiger Bildverarbeitungssoftware verarbeitet, um jeden Fehler aus manuell ausgewählten Operationen zu untersuchen und zu identifizieren. Der High-Dynamic Range (HDR) des Geräts kann selbst schwierigste Defekte erkennen und eignet sich somit für eine Vielzahl von Anwendungsbereichen. Die virtuellen Inspektionswerkzeuge der Maschine TAP wurden entwickelt, um Schichten von gemusterten Layouts zu inspizieren und bietet auch eine hochempfindliche Lasermusterinspektion. Es verwendet eine Vielzahl von erweiterten Bildanalyse-Algorithmen. Die hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit des Werkzeugs stellt sicher, dass jedes der geprüften Proben den höchsten Standards entspricht und jedes Mal zuverlässige Ergebnisse liefert. SLD FGN-20 bietet auch Reporting und Datenmanagement-Funktionen wie Fehlerlisten, 3D-Messungen und andere Berichte, die für verschiedene Anwendungen verwendet werden können. Es bietet auch Online-Messung mit Live-View-Musterprüfung und Full Automated SAM Review (FASR) ermöglicht automatische Messungen für alle kritischen Fehler. Die Anlage ist benutzerfreundlich und ermöglicht eine einfache Bedienung und Wartung, ohne die Messgenauigkeit zu beeinträchtigen. Es enthält auch spezielle Funktionen zur Anpassung der Anforderungen und dedizierte oder private Bereiche für Proben und Geräte. Das Hochleistungsdatenanalysemodell führt eine Analyse an jeder Probe durch und warnt automatisch alle identifizierten Fehler. Insgesamt ist FGN-20 eine zuverlässige und genaue Ausrüstung zur Inspektion von Masken und Wafern. Seine fortschrittliche optische Bildgebungstechnologie, Bildverarbeitungssoftware und verschiedene Funktionen machen es für jede Art von Anwendung geeignet. Es ist einfach zu bedienen und zu warten, sowie bietet verschiedene Berichte und Datenverwaltungsfunktionen.
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