Gebraucht SMS TSM 3000W-RCZ #293654288 zu verkaufen

SMS TSM 3000W-RCZ Mask and Wafer Inspection Equipment ist ein automatisiertes System, das verwendet wird, um die Qualität und Integrität von Masken und Wafern zu überprüfen, die in der Halbleiterindustrie verwendet werden. Diese zuverlässige, leistungsstarke Einheit wurde entwickelt, um selbst kleinste und komplizierteste Muster schnell und präzise zu überprüfen. Die Maschine ist mit einem Laser Autofokus Ausrichtung Werkzeug und einem proprietären Wet Scanner Detection Asset ausgestattet, die Lichtstreuung und Streuung Theorie für Sub-Mikron Auflösung Bildgebung verwendet. Das Modell verfügt über ein Euro eBeam optisches Mikroskop und ein neu entwickeltes Wide-Field CMOS basiertes bildgebendes Gerät für großflächige Abdeckung. Diese hochauflösenden bildgebenden Systeme liefern Daten, die für die Messtechnik, die automatische Fehlerinspektion und die automatische Druckinspektion verwendet werden. Das System bietet auch eine Vielzahl von Werkzeugen für den allgemeinen Laboreinsatz. Das Gerät bietet auch eine Vielzahl von Funktionen im Zusammenhang mit Chip-Tests und Ertragsanalysen. Zu diesen Merkmalen gehören Partikelsteuerung, Partikeldimensionierung und Partikelcharakterisierung durch Temperaturprofilierung und Druckabbildung. Darüber hinaus ist die Maschine in der Lage, Inline-Fehlererkennung, Flachfelderkennung und Cross-Via-Inspektion mit 3D-Messungen. Das Werkzeug kann auch kritische Defekte auf Mikroniveau erkennen. Das Asset umfasst Funktionen und Software zur Automatisierung des Inspektionsprozesses. Dazu gehören Stapelverarbeitung, Mustererkennung und „Smart-Remove“ -Algorithmen. Darüber hinaus unterstützt das Modell eine breite Palette von Analysesprachen, die die Genauigkeit der Fehlererkennung und -analyse verbessern können. TSM 3000W-RCZ Mask and Wafer Inspection Equipment ist für hohen Durchsatz, Zuverlässigkeit und Wirtschaftlichkeit ausgelegt. Es ist eine robuste Lösung zur Fehlererkennung und Wartung der Qualität von Masken und Wafern. Es bietet Werkzeuge für die effiziente Inspektion und Analyse einer Vielzahl kritischer Dimensionen und ist damit eine ideale Wahl für die Halbleiterindustrie.