Gebraucht SONY IRG-12-T02 #9204655 zu verkaufen

SONY IRG-12-T02
ID: 9204655
DUV Review station.
SONY IRG-12-T02 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung für Halbleiterhersteller, die eine schnelle und genaue Inspektion benötigen. Dieses System verwendet eine CCD-Kamera (Large Field of View Charge Coupled Device), die die Inspektionsleistung maximiert. Mit einer hervorragenden Auflösung im Abstand von 40mm und einer Schärfentiefe von 34 μ m ist dieses Gerät sehr zuverlässig und ermöglicht eine präzise Inspektionsgenauigkeit. IRG-12-T02 verwendet eine schnelle Scantechnik, um mikroskopische Merkmale genau zu erfassen und zu analysieren. Dies wird durch eine automatisierte Höhenerfassungsmaschine erreicht, die einen PMD (Position Measuring Device) -Sensor verwendet, um Oberflächenhöhenänderungen zu erfassen und die Größe und den Standort von Defekten zu bestimmen. Das Tool verfügt zudem über eine hohe Scangeschwindigkeit und eine große Datenhandhabungskapazität, so dass eine große Anzahl von Proben schnell analysiert werden kann. SONY IRG-12-T02 verfügt über einen mechanischen Arm zur präzisen Probenplatzierung und ermöglicht eine breite Palette von Inspektionsmodi für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Kantenerkennung und Waferspaltmessungen. Die intuitive Benutzeroberfläche des Asset ermöglicht eine einfache Bedienung und bietet eine große Auswahl an Bildverarbeitungsfunktionen, einschließlich der Einstellung von Fokus, Kamerasteuerung, Autofokus-Steuerelemente, Bildeffekte und Speichereinstellungen. IRG-12-T02 verfügt auch über erweiterte Nachbearbeitungsfunktionen wie die Deoszillation, die die Gesamtbildqualität verbessern. Darüber hinaus verfügt das Modell über einen automatischen Masken-Nebelfilter, um Flare durch Aufflackern und eine Überprobe-Ausrüstung zur Erhöhung der Vergrößerungseinstellungen zu verbessern. SONY IRG-12-T02 ist für einfache Wartung mit Zugänglichkeit zu den Kameras und Scatter-Korrektur-Board von der benutzerfreundlichen Rückseite konzipiert. Mit seinen Hochgeschwindigkeits-Scanfunktionen, der Datengenauigkeit und der zuverlässigen Bildanalyse ist dieses System eine ideale Lösung für eine effiziente und zuverlässige Masken- und Waferinspektion.
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