Gebraucht SONY IRG-12 #9211055 zu verkaufen
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SONY IRG-12 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die von der Halbleiterindustrie zur Inspektion von Masken und Wafern auf Defekte, Verunreinigungen und Unregelmäßigkeiten eingesetzt wird. Es verwendet eine Kombination aus modernster Optik und Bildverarbeitungstechniken, um Fehler in Bezug auf geometrische Form- und Mustereigenschaften zu erkennen. Das System ermöglicht auch die Messung der Geräteeigenschaften und die Erzeugung von Bildern. Das Gerät besteht aus präzisen optischen Komponenten, einer Lichtquelle, Objekt- und Bildsensoren, Anzeigegeräten und einem Bildprozessor. Die Optik besteht aus einem koaxialen Zoomobjektiv mit breiter n.a. (numerische Apertur) für die beste Bildgebung sowie einem Paar von langen Arbeitsstrecken/langen Arbeitsstrecken-Objektiven. Die in Verbindung mit der Optik verwendete Lichtquelle ist eine dichroitische Entladungslampe. Es ist in der Lage, bis zu 24 korrelierte Frequenzen im sichtbaren und einige im nahen Infrarot-Spektralbereich bereitzustellen. Der in IRG-12 verwendete Bildsensor ist ein Array von 2-dimensionalen, rückbeleuchteten CCD (charge-coupled device) Sensoren. Diese Bildsensoren sind im „elektronischen Verschlussmodus“ für beste Reaktionsfähigkeit und Präzision konfiguriert. Der die Maschine begleitende Bildprozessor ist ein fortgeschrittenes Bilderkennungswerkzeug, das positionskompensierte Filtertechniken zur kontrastreichen Kantenerkennung verwendet. SONY IRG-12 verfügt über verschiedene Funktionen, die die Genauigkeit und Geschwindigkeit des Inspektionsprozesses erhöhen sollen. Es enthält einen „3-dimensionalen Bildprozessor“, der es ermöglicht, zwei verschiedene Bilder aus derselben Ebene in einer Aufnahme zu erfassen. Es hat auch eine eingebaute „Flachfeldkorrektur“ -Funktion, die hilft, Bildverzerrungen durch optische Wege in der Probe zu reduzieren. Darüber hinaus verfügt das Asset über eine „simultaneous imaging“ -Funktion, die die Verarbeitung mehrerer Bilder gleichzeitig ermöglicht. Abschließend ist IRG-12 ein fortschrittliches Masken- und Wafer-Inspektionsmodell mit den neuesten Technologien und Leistungsmerkmalen. Es verwendet modernste Optik und Bildverarbeitungstechniken, um Fehler mit höchster Präzision und Genauigkeit zu identifizieren. Es ermöglicht auch die Erzeugung von 3-dimensionalen Bildern und die gleichzeitige Abbildung mehrerer Bilder. SONY IRG-12 wurde entwickelt, um die Inspektionszeit drastisch zu reduzieren und die Fehlererkennung insgesamt zu verbessern.
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