Gebraucht TAYLOR HOBSON CCI MP-HS #293654291 zu verkaufen

TAYLOR HOBSON CCI MP-HS ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um eine hochauflösende Inspektion von undurchsichtigen und halbtransparenten Masken-, Wafer- und Netzbeschichtungen zu ermöglichen. Dieses Masken- und Wafer-Inspektionssystem kann sowohl für die Produktion als auch für die Entwicklung/F & E-Anwendungen verwendet werden. Es ist eine automatisierte Einheit, die mit robuster und zuverlässiger Bildgebungstechnologie mit fortschrittlicher Software integriert ist. Diese Maschine ist in der Lage, hochauflösende Bilder mit maximaler Effizienz zu erfassen. CCI MP-HS bietet eine Inspektionsauflösung von 5 µm für undurchsichtige Masken und 40 nm für Dünnschichtstapel mit einem hohen Dynamikbereich von 10.000: 1. Das Werkzeug bietet einen programmierbaren Fokus, der entsprechend dem zu erfassenden Nachweis angepasst werden kann. Es bietet auch Hochgeschwindigkeitsprüfung bis zu 1.000 Wafer/Stunde und kann sowohl Standardoberflächen- als auch 3D-physikalische Fehlerinspektion sowie parametrische und Mapping-Analyse durchführen. TAYLOR HOBSON CCI MP-HS ist kompatibel mit verschiedenen Materialien, darunter Si, SiGe und III-V-Materialien sowie Oxiden, Nitriden, Polymeren und Cu-Metallisierungsschichten. Darüber hinaus kann das Asset Mikrodefekte und Transparenzprobleme erkennen, die zur Steigerung des Ertrags, zur Optimierung der Produktleistung und zur Senkung der Kosten beitragen. CCI MP-HS verfügt über eine patentierte gestapelte Beleuchtungstechnologie, die eine qualitativ hochwertige Oberflächeninspektion komplexer Proben ermöglicht, von leichten dünnen Filmen bis zu Wafern mit mehreckigen Strukturen. Darüber hinaus ermöglichen die Beleuchtungslinsen des Modells dem Anwender die Anpassung der Beleuchtung an die spezifischen Anforderungen der Probe und bieten eine höhere Auflösung, Kontrast und Fokustiefe. Zusätzlich zu seinem tragbaren Design integriert das Gerät eine Vielzahl von Softwarepaketen, wie OTF Autofocus und Edge Trace, die eine automatisierte und manuelle Probenausrichtung bieten und es ermöglichen, menschliche Eingriffe zu reduzieren und gleichzeitig eine hohe Genauigkeit zu gewährleisten. Die Software bietet auch eine niedrige Fehlalarmrate und leistungsstarke Softwareanalysefunktionen, um qualitativ hochwertige Inspektionsergebnisse auf einer Vielzahl von Musterbedingungen und Materialien bereitzustellen. Insgesamt bietet TAYLOR HOBSON CCI MP-HS hochauflösende Bildgebung und leistungsstarke Software-Analysetools, um Qualität und Genauigkeit der Masken- und Waferinspektionen zu gewährleisten. Dieses System ist eine ideale Lösung für integrierte Produktionslinien und bietet eine automatisierte, effiziente und kostengünstige Masken- und Waferinspektion.