Gebraucht TOPCON VI-3200 #9410949 zu verkaufen

TOPCON VI-3200 ist eine Hochdurchsatz-Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für den Einsatz in der Halbleiterindustrie. Es bietet erstklassige Bildgebung und automatisierte Fehlerinspektionsleistung und trägt zur optimalen Prozesskontrolle und Kosteneinsparung bei. VI-3200 verwendet Brightfield, Darkfield und Wafer Spectrum Imaging (WSI), um eine umfassende Suite an Inspektionsmöglichkeiten bereitzustellen. Brightfield-Bildgebung wird verwendet, um Größe und standortbasierte Defekte zu erkennen, während Dunkelfeld-Bildgebung Musterunregelmäßigkeiten und Linienbreitenvariationen erkennt. WSI erfasst effektiv die genaue Form, Position und den Zustand einer Vielzahl von Defekten, einschließlich Hohlräumen, Kratzern und Kontaminationsflecken. Das System bietet überlegene Bilddetails und Genauigkeit sowie eine beeindruckende Mischung an Fähigkeiten, einschließlich automatisierter Inspektionseinrichtung und Parameteroptimierung, 3D-Bildanalyse und umfassender Fehleranalyse. Dank der automatisierten Inspektionseinrichtung und Parameteroptimierung kann das Gerät die Einstellungen für den jeweiligen Auftrag schnell optimieren, während die 3D-Bildanalysefunktionen hochpräzise Messungen von Muster- und Ausrichtungsfehlern ermöglichen. TOPCON VI-3200 verfügt über eine erweiterte Fehleranalysefähigkeit, die die Mustererkennung und quantitative Analyse von Luftbildern umfasst und die Identifizierung von kleinen Ebenen ermöglicht. Um eine überlegene Bildqualität und maximale Leistung zu gewährleisten, ist die Maschine mit einem optischen Werkzeug der nächsten Generation sowie einem leistungsfähigen Bildprozessor ausgestattet. Die Anlage ist für eine schnelle, einfache Einrichtung und Bedienung konzipiert und eignet sich daher gut für belebte Produktionsumgebungen. Es verfügt auch über eine breite Palette von integrierten Qualitäts- und Fehlermessfunktionen, einschließlich 2D/3D-optischen kritischen Dimensionsmessungen, die zur Analyse und Messung großer, komplexer Maskenmuster verwendet werden können. VI-3200 ist ein leistungsstarkes, leistungsstarkes Masken- und Wafer-Inspektionsmodell, das überlegene Bildqualität und Genauigkeit mit einem beeindruckenden Leistungsspektrum kombiniert. Durch die Gewährleistung einer optimalen Prozesssteuerung und Kosteneinsparungen ist es eine ausgezeichnete Wahl für Halbleiterherstellungsumgebungen.