Gebraucht TROPEL Flatmaster 200 #9116638 zu verkaufen

TROPEL Flatmaster 200 ist eine vollautomatische Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für den Einsatz in der Halbleiterherstellung. Es verwendet eine Vielzahl von Bildverarbeitungstechniken, um mikroelektronische Muster, Defekte und Parameter von Interesse in Masken und Wafern schnell zu überprüfen und zu analysieren. Flatmaster 200 ist mit mehreren Technologien ausgestattet, einschließlich eines fortschrittlichen hochauflösenden Farbbildgebungssystems, einer Fünf-Achsen-Bewegungseinheit und einer dreistufigen Fehlererkennungsmaschine. Das hochauflösende Farbbildwerkzeug ist in der Lage, detaillierte Bilder von Masken- und Waferoberflächen mit unübertroffener Klarheit und Auflösung zu erfassen. Die Fünf-Achsen-Bewegungseinheit ermöglicht eine präzise Messung und Positionierung von Probenbereichen mit einem maximalen Weg von 500 mm pro Achse. Darüber hinaus stellt das dreistufige Fehlererkennungsmodell sicher, dass alle an der Maske oder dem Wafer vorhandenen Fehler unabhängig von Größe oder Mustertyp erkannt werden. Neben der Hardware ist TROPEL Flatmaster 200 auch mit verschiedenen Softwareprogrammen zur leistungsstarken und vielseitigen Masken- und Waferinspektion ausgestattet. Die Vision-Software bietet eine intuitive Benutzeroberfläche, mit der Benutzer Bilder schnell analysieren und Muster, Fehler und Parameter von Interesse erkennen können. Die Messsoftware ermöglicht die Analyse kritischer Parameter wie kritische Dimension (CD), Linienbreitenvariationen (LOV) und Seitenwandwinkelvariationen (SAV). Darüber hinaus ermöglicht das Reporting-Equipment den Anwendern, bequem umfassende Berichte über ihre Inspektionsergebnisse zu erstellen. Insgesamt hebt sich Flatmaster 200 durch innovative Bildgebungs- und Bewegungstechnologien, leistungsstarke Bild- und Messsoftware sowie ein vielseitiges Reporting-System vom Rest des Marktes ab. Diese Masken- und Wafer-Inspektionseinheit bietet unübertroffene Präzision und Genauigkeit und ist die perfekte Lösung für die automatisierte Inspektion in der Halbleiterherstellung.