Gebraucht VISTEC LWM9000 #293593050 zu verkaufen

ID: 293593050
Wafergröße: 6"
Weinlese: 2005
CD Measurement system, 6" 2005 vintage.
VISTEC LWM9000 Masken- und Wafer-Inspektionsgeräte ist ein automatisiertes, automatisiertes optisches Inspektionssystem für die Halbleiterindustrie. Die Einheit ist in der Lage, eine Vielzahl von Objekten zu inspizieren, einschließlich Photomasken, Retikel, Wafer und andere Halbleiter-bezogene Bauelemente. Die Inspektionsmaschine verwendet eine ausgeklügelte optische Bildgebungsplattform und fortschrittliche Algorithmen, um jede Art von Defekten zu erkennen. Kern LWM9000 Werkzeugs ist die hochwertige optische Inspektionsplattform. Die Plattform nutzt eine fortschrittliche Optik, einschließlich eines Nahinfrarotlasers und einer hochauflösenden digitalen Bildgebung. Dieses Setup ermöglicht ein außergewöhnlich klares Bild der Maske oder des Wafers. Die optische Abbildungsplattform umfasst auch Optik, um rauscharme Messungen zu gewährleisten und die Zeit zu reduzieren, die zum Erkennen von Defekten erforderlich ist. VISTEC LWM9000 verfügt auch über eine Reihe fortgeschrittener Algorithmen, um Fehler zu erkennen. Diese Algorithmen sind auf die Besonderheiten der Aufgabe und der geprüften Objekte zugeschnitten, so dass das Modell schnell die häufigsten Arten von Fehlern erkennen kann, einschließlich Vias, Pits, Mängel in Untergröße und Übergröße und Fehlausrichtung. Die Benutzeroberfläche von LWM9000 ist für einfache Bedienung ausgelegt. Die Oberfläche erscheint als Touchscreen-Display mit einer Reihe von verschiedenen Einstellungen und Optionen zur Auswahl. Dies ermöglicht es Benutzern, die Geräte für ihre jeweilige Anwendung anzupassen. Neben den automatisierten Inspektionsmöglichkeiten verfügt VISTEC LWM9000 auch über eine fortschrittliche statistische Analysesoftware. Diese Software kann verwendet werden, um automatisch Zusammenfassungen und Berichte über die erkannten Fehler zu generieren und kann in Kombination mit den anderen Funktionen des Systems verwendet werden. Diese Software ist auch in der Lage, die Art der gefundenen Mängel sowie deren Menge festzustellen, so dass Behebungsmaßnahmen schneller ergriffen werden können. LWM9000 ist eine leistungsstarke Einheit, die in der Lage ist, Photomasken und Wafer schnell zu inspizieren. Seine hochwertige optische Bildgebungsplattform und fortschrittliche Algorithmen sind in der Lage, eine Vielzahl von Defekten schnell und genau zu erkennen. Die verbesserte Benutzeroberfläche ermöglicht eine einfache Einrichtung und Bedienung, während die statistische Analysesoftware in der Lage ist, detaillierte Berichte über die geprüften Objekte bereitzustellen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor