Gebraucht WITHLIGHT OPI-110 #9281914 zu verkaufen

WITHLIGHT OPI-110
ID: 9281914
Optical power measurement system Photometer Current: 2nA - 20mA Spectro-radiometer Range: 350 - 1050nm Detector: S7031 - 1006 Back thinned TE cooled Optical fiber Core size: 1000µm Fused silica core Transmission range: 250-1100nm Total length: 2m Pneumatic auto loading system adapter (Socket assembly) for lamp LED Integrating sphere system Integrating sphere & jig for unit LED Auxiliary lamp Power supply LED Lamp aging system.
WITHLIGHT OPI-110 Mask & Wafer Inspection Equipment ist eine Komplettlösung zur Inspektion einer Reihe von Halbleitermaterialien auf Fehler, Defekte und andere Inkonsistenzen. Dieses System bietet eine hochauflösende bildgebende Lösung mit einem breiten Sichtfeld, die eine genaue und effiziente Inspektion einer Reihe von Materialien ermöglicht. OPI-110 verfügt über eine einzigartige bildgebende Mikroskopie, die sowohl Hellfeld als auch Dunkelfeld-Bildgebung ermöglicht. Diese optische Pfad-Interferometrie-Einheit des Binokularmikroskops kann leicht angepasst werden, um Merkmale bis zu 0,5 μ m zu beobachten, sodass Hersteller Fehler, Kontaminationen und andere Verunreinigungen im Material effektiv erkennen können. Seine Präzisionsoptik bietet dem Anwender ein hochauflösendes Bild, das durch einfache Fokusverschiebung schnell und einfach navigiert werden kann. WITHLIGHT OPI-110 verfügt auch über eine automatisierte Wafer-Handhabungsmaschine, die den Inspektionsprozess optimieren und beschleunigen soll. Mit seinem leichten Design kann das Werkzeug leicht eingerichtet und neu positioniert werden, was eine reibungslose, genaue Probenbelastung ermöglicht. Das Asset ist auch mit fortschrittlicher Software-/Hardware-Integration ausgestattet, mit der Benutzer die Parameter des Modells steuern und das Bild in hochauflösender, nahezu Echtzeit visualisieren können. Neben der optischen Inspektion können OPI-110 auch für die laserstrahlinduzierte Stromabbildung (LBIC) eingesetzt werden. Diese Technik ermöglicht es Benutzern, Variationen des Materialverhaltens bis zu 6 μ m zu erkennen. Die LBIC-Technik ist auch in der Lage, ungleichmäßige Bereiche in der Probe zu erkennen und den Benutzern detaillierte Echtzeitinformationen zu liefern. WITHLIGHT OPI-110 ist eine ideale Lösung für jeden Halbleiterhersteller, der ein zuverlässiges und effizientes Mittel zur Inspektion von Wafern und Masken sucht. Durch die Nutzung seines Spektrums an ausgeklügelten bildgebenden Funktionen und automatisierten Probenhandhabungsgeräten bietet OPI-110 Herstellern die Möglichkeit, Fehler, Kontaminationen und andere Inkonsistenzen im Material genau und schnell zu erkennen und so die Qualität ihrer Produkte zu verbessern.
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