Gebraucht WITHLIGHT OPI-305 #9382260 zu verkaufen

WITHLIGHT OPI-305 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um Partikelverunreinigungen von der Oberfläche von Masken- und Wafersubstraten zu untersuchen und zu erkennen. Das System bietet hochauflösende Bildgebung sowohl für Partikel als auch für Partikel, die in Substrate eingebettet sind. OPI-305 verwendet eine Laserdioden-Lichtquelle zur Aufnahme von Partikelbildern. Die aufgenommenen Bilder werden dann mit WITHLIGHT-proprietären digitalen Bildverarbeitungsalgorithmen digital analysiert. WITHLIGHT OPI-305 bietet eine hochwertige Bildauflösung von 456x435 Pixeln. Dies ermöglicht eine maximale Auflösung und Empfindlichkeit gegenüber Partikeln und ermöglicht den Nachweis von Partikeln mit einem Durchmesser von bis zu 1,2 Mikrometern. Die Laserdiodenlichtquelle wurde entwickelt, um die Wärmeerzeugung auf dem Substrat zu minimieren und eine geringe Lichtfeldbeleuchtung zu gewährleisten. OPI-305 beinhaltet erweiterte Optik, die eine gleichzeitige Abbildung bei verschiedenen Vergrößerungen ermöglicht. Dies ermöglicht höherauflösende Bilder bei höheren Vergrößerungen sowie die gleichzeitige Inspektion mehrerer Substrate. Das Gerät hat auch eine eingebaute Dunkelfeldbeleuchtung, die die Partikeldetektion erleichtert. WITHLIGHT OPI-305 umfasst erweiterte 3D-Bildgebungsfunktionen, die eine 3D-Rekonstruktion und Analyse der Oberflächentopographie zum Nachweis partikelförmiger Verunreinigungen ermöglichen. Die Maschine verfügt außerdem über ein flexibles, programmierbares Prüfprotokoll, mit dem Bilder von partikulären Verunreinigungen von mehreren Substratoberflächen erfasst werden, die eine unterschiedliche Oberflächentopologie aufweisen können. OPI-305 verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche, die eine einfache Bedienung und Datenanalyse ermöglicht. Es enthält auch eine Reihe von vorprogrammierten Inspektionsprotokollen, die für eine Vielzahl von Inspektionen und Partikeldetektionsaufgaben verwendet werden können. Das Design von WITHLIGHT OPI-305 sorgt für wiederholbare, zuverlässige Ergebnisse mit hoher Flexibilität und Wiederholbarkeit. Seine intuitive Benutzeroberfläche und digitale Bildverarbeitungsalgorithmen sorgen für genaue Inspektionsergebnisse. Es ist hochauflösende Bildgebung, Erkennungsfunktionen und 3D-Bildgebung machen es zu einem idealen Werkzeug für Masken- und Wafer-Inspektion.